GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动.pdf

ICS31.220.10 L23 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2506-2020/IEC60512-25-6:2004 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f:眼图和抖动 Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-6:Test 25f:Eye pattern and jitter (IEC 60512-25-6:2004 Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 25-6:Test 25f:Eye pattern and jitter IDT) 2020-04-28发布 2020-11-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T5095.2506-2020/IEC60512-25-6:2004 目 次 前言 I 1总则1 1.1范围和目的 1 1.2术语和定义 1 2试验设施 2.1设备 1 2.2装置 1 3试验样品 2 3.1说明 2 4试验程序 2 4.1总则 2 4.2眼图2 4.3抖动 3 5相关标准应规定的细则 3 6试验记录文件 4 附录A(规范性附录)样品终端示意图 5 附录B(资料性附录)眼图诠释一一实用指南7 GB/T5095.2506-2020/IEC60512-25-6:2004 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分. GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： ——第251部分：试验25a:串扰比； ——第252部分：试验25b:衰减（插入损耗）； —第253部分：试验25c:上升时间衰减； —第254部分：试验25d:传输时延； ——第25-5部分：试验25e:回波损耗； —第256部分：试验25f:眼图和抖动； —第257部分：试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR); ——第259部分：信号完整性试验试验25i:外来串扰. 本部分为GB/T5095的第256部分. 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本部分使用翻译法等同采用IEC60512256:2004《电子设备用连接器试验和测量第256部 分：试验25f:眼图和抖动》. 本部分做了下列编辑性修改： —标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第256部分：试验25f:眼图和抖动》修改为 《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第256部分：试验25f:眼图和抖动》. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口. 本部分起草单位：四...