中华人民共和国电子行业标准 FL6100 SJ21342-2018
极低噪声测试方法 Measuringmethodsforthe extremelylownoise
2018-01-18发布2018-05-01实施
国家国防科技工业局发布
SJ21342-2018 前言 本标准由中国电子科技集团公司提出。
本标准由工业和信息化部电子第四研究院归口。
本标准起草单位：中国电子科技集团公司第十六研究所。
本标准主要起草人：吴志华、王自力、纪斌、何川、王贤华。
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SJ 21342-2018
极低噪声测试方法
1范围 本标准规定了极低噪声（噪声系数或噪声温度）的测试方法。
本标准适用于低温放大器及其组件（以下简称低温放大器）和包含馈源低温接收机或组件（以下简 称低温接收机）的极低噪声测试。
2规范性引用文件AND 下列文件中的条的引用而成为本标准的条款的引用文件，其随后的 修改单（不包含勘或修订版均不适用于本标准，然而，准达成协议的各方研究 是否可使用这些新版本注日期的引用文件，本标准。
GB/T1751半导和集成电路 GJB360电子 3术语和TECHNOL 下列术语适用于本标准。
3.1
thev ar 可变负载利用的线性关系通过对多个不同负载温 功率的测量，获取低温放大器在低温状态下的噪声种测试方法。
3.21 低温衰减器法Necoldattenuatormethod 减器减少测量误差的一种低温产复测量方法。
3.3 液氮冷负载法thecold load 液氮冷负载法是将浸泡有液氮的微波温度稳定性冷源即冷负载，未浸泡液氮的常温微波 黑体作为热负载的一种低温接收机噪声温度测量方法。
4一般要求 4.1测试条件和环境 测试条件和环境要求如下： a）除另有规定外，测试应在25℃士3C环境温度、20%～80%相对湿度和自然环境大气压热 平衡下进行。
为保证试验的准确性，应严格控制这些条件； b）仲裁试验的标准大气条件按GJB360B-2009中4.1.2的规定； c）测试期间，环境条件应无影响测试结果准确性的机械振动及电磁干扰。
SJ 21342-2018 4.2测试仪器和试验设备 测试仪器和试验设备应满足下列要求： a）测试用仪器的量程应满足测试要求，具有规定的准确度，并经计量检定合格； b）除另有规定外，输入信号应是小信号，以使有源器件工作在线性区； c）除另有规定外，测试系统的输入、输出阻抗应为50Ω； d）按照微波器件测试要求做好静电防护。
当操作静电敏感器件时，应遵循GB/T17573-1998中第 仅篇中的操作注意事项；
土2K之内，或满足被测样品的测试要求； f）被测低温放大器安装在低温试验平台内的冷板上，在低温放大器上安装有温度传感器，监测低 温放大器工作温度； g）测试所用的温度传感器的测量误差要求应在土0.25K范围之内。
5详细要求
5.1概述 5.1.1本测试方法包含低温放大器和低温接收机两类产品的极低噪声测试方法。
量一般可采用可变负载温度法或低温衰减器法方法。
低温接收机可采用液氮冷负载法方法。
5.2可变负载温度法（仲裁方法） 5.2.1目的 采用可变负载温度法测量低温放大器在规定条件下的噪声温度（噪声系数）。
5.2.2测试原理 5.2.2.1测试框图如图1所示。
I低温负载被测件噪声系数 （带调度传感器A和加热器）（营温度传8）分析仪 20K及以下1 低温试验平台声
温度控制仪计算机
图1可变负载温度法噪声温度的测试框图 5.2.2.2可变负载温度法的原理是利用低温放大器的输出噪声功率与负载温度的线性关系实现其噪声 温度的测试。
可变负载温度法噪声温度测试框图如图1所示，在低温放大器的输入端口接低温负载（低 温负载为50Ω负载，要求低温下测试频率范围内的驻波比≤1.3），低温负载上安装有温度传感器和加 热器，通过温度控制仪控制加热器加热功率大小实现对低温负载温度的控制。
低温负载和低温放大器之 间通过隔热不锈钢电缆连接，减少低温负载升温对低温放大器温度的影响。
低温试验平台外部用一台噪 声系数分析仪获得不同低温负载温度下低温放大器的输出噪声功率。
50Ω低温负载的温度由安装在低 温负载夹具上的一个温度传感器获得。
根据低温负载温度及其对应的噪声功率利用一元线性方程就可以 得到低温放大器在低温状态下的噪声特性。
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