YDB 中国通信标准化协会 YDB122.2—2013 通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块 (CLF)间主控接口(HCI)测试方法 第2部分：U1CC特性 Test method for UICC-CLF HCI protocol Part2:UICC features (ETSI TS 102 695-2 V8.0.0 Smart Cards;Test specification for the Host Controller Interface (HCI);Part 2:UICC features MOD) 2013-03-06印发 中国通信标准化协会发布 YDB122.2—2013 目 次 前言. II 1范围... ...1 2规范性引用文件....... ............1 3术语、定义和缩略语.. ........1 3.1术语和定义 3.2缩略语..... 2 4测试环境......... 3 4.1厂家需提供的信息... 3 4.2测试设备... . 3 4.3测试执行条件.... 4 4.4通过判定 4 5测试用例.... . 4 5.1HCI架构....................... 5 5.2HCP消息结构....... ....9 10 5.4端口和条目. 17 5.5HCI流程...... 22 5.6非接触卡模拟..... 29 I YDB122.2—2013 前言 《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法》是通用集成电路 卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间协议和接口系列标准之一，该系列标准名称和结构如下： a)《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)技术要求》； b)《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)技术要求》； c)《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)测试方法》； d)《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法》. 《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法》分为两个部分： 一一第1部分：终端特性； 一一第2部分：UICC特性. 本部分是《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法》的第2 部分. 本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草. 本部分修改采用ETSI TS102695-2V8.0.0 智能...
YDB 122.2-2013 数字移动通信终端通用集成电路卡（UICC）与非接触通信模块（CLF）间主控接口（HCI）测试方法 第2部分：UICC特性.pdf
