ICS31.140 L21 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T22319.11-2018/IEC60444-11:2010 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和 误差校正确定负载谐振频率和 有效负载电容的标准方法 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 11:Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLefr using automatic network analyzer techniques and error correction (IEC60444-11:2010 IDT) 2018-03-15发布 2018-10-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T22319.11-2018/IEC60444-11:2010 前言 GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为以下部分： —第1部分：用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法； —第2部分：测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法； —第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻R的测量方法及其他 导出参数的计算； —第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法； —第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量； 一第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量； 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具； 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量； ——第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准 方法. 本部分为GB/T22319的第11部分. 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本部分使用翻译法等同采用IEC60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动 网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率f和有效负载电容C的标准方法》. 与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下： —GB/T12273.1一2017有质量评定的石英晶体元件第1部分：总规范(IEC60122-1:2002 MOD) —SJ/T11210一1999石英晶体元件参数的测量第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负 载谐振频率f和负载谐振电阻R的测量方法及其他导出参数的计算(IEC60444-4:1988 IDT) 本部分作了下列编辑性修改： 一3.1中“负载谐振频率f是二个频率中较低的频率”改为“实用中，负载谐振频率f是二个频 率中较低的频率”； 4.2b)的式(5)分母中“Z3(V2一V2)”改为“Z3(V1一V2)”; —图2中的图例，虚线表示“Xc()”改为“Vc” 实线表示“Vc”改为“Xc()”. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口. 本部分起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、郑州原 创电子科技有限公司. 本部分主要起草人：章怡、高志祥、邹飞. I GB/T22319.11-2018/IEC60444-11:2010 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动...
GB/T 22319.11-2018 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法.pdf
