中华人民共和国国家标准
GB/T 15074-2025代替GB/T15074-2008
电子探针定量分析方法通则
General specification for EPMA quantitative analysis
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布
目次
前言1范围2规范性引用文件3术语和定义4方法原理5仅器设备和标样6试样制备 7测量前的准备8测量条件9测量步骤10各元素质量分数的计算11测量不确定度 1012分析报告 12附录A（资料性）电子探针定量分析结果测量不确定度评定示例 13
前言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草.
本文件代替GB/T150742008（电子探针定量分析方法通则》，与GB/T15074-2008相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：
a）更改了范围（见第1章，2008年版的第1章）；b）增加了术语和定文（见第3章）：e）更改了方法原理的表述（见第4章，2008年版的第3章）：e）增加了电子探针束流稳定度的要求（见5.1.2）： d）更改了电子探针主要结构图和描述（见5.1.1，2008年版的第4章）：f）增加了电子探针校准/检定的建议（见5.1.2）；g）更改了电子探针环境条件的要求（见5.2，2008年版的第5章）；h）更改了标样的选择原则、要求和使用（见5.3，2008年版的第8章）：i）更改了试样制备的要求（见第6章，2008年版的12.1）； 更改了测量前的准备内容删除了X射线计数系统增加了综合检查总量误差的要求（见第7章，2008年版的第6章）；k）更改了加速电压的推荐值（见8.1.2008年版的7.1）；1）更改了电子束流选择原则（见8.2.1.2008年版的7.2.1）；n）更改了束斑直径的描述，增加了试样和标样束斑直径应一致的要求（见8.4，2008年版的7.4）； m）增加了谱线干扰解决方法（见8.3.3）：0）更改了定性分析的目的（见9.1 2008年版的9.1）；p）更改了元素测量顺序的建议（见9.2.1.2008年版的12.2.2）；q）删除了各元素X射线强度测量的次序（见2008年版的12.3）； r）增加了不能测试轻元素的处理方式（见9.2.2）：s）更改了背底强度的测量公式（见9.3.5，2008年版的11.6）；t）更改了相对X射线强度的计算公式（见10.2，2008年版的9.4）；u）更改了ZAF校正法的元素适用范围（见10.3.2.1 2008年版的13.2.1）；v）增加了p（p=）法和XPP法（见10.3.3和10.3.4）； w）更改了a系数校正法（B-A法、a因子法）（见10.3.5，2008年版的13.3）；x）更改了校准曲线法选用标样的数量（见10.3.6.2，2008年版的13.4.2）；y）增加了测量不确定度的评定步骤（见第11章）：z）更改了分析报告的要求（见第12章，2008年版的第15章）. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任.本文件由全国微束分析标准化技术委员会（SAC/TC38）提出并归口.本文件起草单位：核工业北京地质研究院、中国地质科学院矿产资源研究所、首钢集团有限公司、广东省科学院工业分析检测中心.本文件主要起草人：葛祥坤、范光、陈振宇、枸新华、伍超群. 本文件于1994年首次发布，2008年第一次修订，本次为第二次修订.
