GB/T 27582-2011 光学功能薄膜 等离子电视用电磁波屏蔽膜 屏蔽效能测定方法.pdf

光学,导电,屏蔽,效能,电磁波,推荐性国家标准
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中华人民共和国国家标准

GB/T27582-2011

光学功能薄膜等离子电视用电磁波 屏蔽膜屏蔽效能测定方法

Optical functional films-Electromagnetic interference shielding film for plasmaTV-Determination of shielding effectiveness

中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布

前言

本标准的附录A为资料性附录.本标准由中国石油和化学工业联合会提出. 本标准由全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会(SAC/TC431)归口.本标准起草单位:中国乐凯胶片集团公司.本标准起草人:刘贤豪、唐志健、焦聪宣.

光学功能薄膜等离子电视用电磁波 屏蔽膜屏蔽效能测定方法

1范围

本标准适用于电磁波屏蔽膜及光学滤光片电磁波屏藏效能的检验. 本标准规定了等离子电视上使用的各种电磁波辐射屏蔽材料的平面波屏蔽效能测定方法.

2规范性引用文件

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然面,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款,凡是注日期的引用文件,其随后是否可使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准.

GB/T6113.101无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第1-1部分:无线电骚扰和抗抗度测量设备测量设备

3术语和定义

下列术语和定义适用于本标准.

3. 1

电磁波屏蔽膜electromagnetic interference shieldingfilm

在塑料薄膜(例如聚对苯二甲酸乙二醇酯PET)表面镀覆透明金属层或金属网格,具有阻挡电磁波辐射功能的功能膜.

3.2

光学滤光片optical filter

起,直接安装在等离子电视上或者贴在平板玻璃上后再安装在等离子电视上使用的专用滤光器. 电磁波屏蔽膜与具有其他功能的膜(例如阻近红外,校正氛放电色调,以及降低表面反射)组合在一

屏蔽效能shieldingeffectiveness

SE

在同一激励电平下,无屏蔽材料和有屏蔽材料时接收到的功率或电压之比,并以对数表示.即

式中:

SE屏蔽效能,单位为分贝(dB);V.-无屏蔽材料时接收的电压; V-有屏蔽材料时接收的电压;P.无屏蔽材料时接收的功率;P有屏蔽材料时接收的功率.

测试方法

4.1调节条件

测试应在温度(23土2)℃,相对湿度45%~75%的环境中至少调节48h.

4.2测试环境

大气压力86kPa~106kPa,环境电磁噪声对测量结果不产生影响.

4.3测试设备

4.3.1信号源

频率范围:30MHz~1GHz;输出阻抗:50Ω;

最大输出功率:≥13dBmW;电压驻波比:<2.0 4.3.2电磁干扰测量仪 工作频率范围与信号源一致,测量误差满足GB/T6113.101的要求. 4.3.3法兰同轴测试装置 试样对垂直人射平面波的屏蔽效能, 如图1所示,该同轴装置内的电场与磁场相互正交,且垂直于电磁波的传播方向,因此测量结果是 频率范围:5 kHz~1.5 GHz:特性阻抗:50Ω; 电压驻波比:100dB

图1法兰同轴测试装置

4.3.4袁减器

频率范围:30MHz~1.5GHz; 特性阻抗:50Ω:10 dB固定衰减器(额定功率满足测试要求):驻波比:<1.2 4.4试样制备 负载试样最大厚度r≤5mm,试样外径115-:mm,被测的材料应按以下规格制作成试样(见图 2) . 图2试样尺寸示意图 4.5测试程序 4.5.1按图3连接测量装置,将满足4.3.1要求的信号源通过10dB衰减器直接接入该装置的一端,该装置的另一端直接通过10dB衰减器与电磁干扰测量仪(干扰接收机)相连接,测量时注意测量电缓应尽量的短. 图3信号源/电磁干扰测量仪(干扰接收机)法测量连接图 4.5.2把参考试样装入法兰同轴测试装置中,在法兰同轴测试装置中夹放试样时,应将导电面朝向信号源端,并夹紧试样,使试样与法兰同轴装置紧密的接触,避免因接触不良而引起的测量误差.对屏藏效能高的试样及玻璃等脆性导电试样,在同轴法兰的法兰面上必须加导电衬垫.信号源调到某测试频平,使电磁干扰测量仪(干扰接收机)读数大于被测试样的屏蔽效能估计值,并记下此读数V.(dBV). 率点上,输出电平置于适中,调节电磁干扰测量仪(干扰接收机)率,使读数最大.增加信号源输出电4.5.3取下参考样,把负载试样装人法兰同轴装置中,保持信号源频率和输出电平不变,观察电磁干扰测量仪(干扰接收机)读数,如果读数大于它的背景噪声最少10dB,记下此时干扰测量仪的读

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