中华人民共和国机械行业标准
JB/T7429-2006代替JB/T7429-1994
电子塞规
Electronicpluggauges
中华人民共和国国家发展和改革委员会发布
目次
前言，1范围...2规范性引用文件，3术语和定义，型式与基本参数4.1 型式4.2 基本参数 25要求.5.1 外观相互作用，5.2 35.3 测量力. 35.4 材料、硬度和表面粗糙度5.5 绝缘与耐压..5.6 电压波动对示值的影响 35.7 零位平衡35.8 调零范围5.9 误差..0响应时间，5.105.11稳定度.6检验方法...6.1检验条件.6.2检验项目、方法和工具7检验规则.7.1出厂检验， 57.2型式检验，8标志与包装，8.1标志.8.2包装.图1电子塞规
前言
本标准代替JB/T7429-1994《电子塞规》.
本标准与JB/T7429一1994相比，主要变化如下：
修改了电子塞规的测量范围及其对应测头凸出量（1994年版的表1；本版的表1)；修改了被测孔的工作间隙（1994年版的表2；本版的表2）；修改了电子塞规各档示值范围及相应的分度值（1994年版的4.2.3；本版的4.2.3）；修改了塞规体测头的测量力并删除了允许变化量（1994年版的表4；本版的表3)；修改了测头测量面的表面粗糙度R.值（1994年版的5.4，本版的5.4.3）；修改了电子塞规绝缘与耐压要求（1994年版的5.5，本版的5.5）；修改了电压波动对示值的影响（1994年版的5.6：本版的5.6）；修改了零位平衡要求（1994年版的5.7；本版的5.7）；修改了调零范围（1994年版的5.8；本版的5.8）；修改了误差要求（1994年版的5.9～5.11；本版的表5）；删除了抗干扰性要求（1994年版的5.15）；修改了预热时间要求（1994年版的6.1.3；本版的6.1.3）；修改了部分项目的检验方法（1994年版的表5；本版的表6）；-增加了检验规则要求（本版的第7章）；修改了标志与包装要求（1994年版的第7章；本版的第8章）.本标准由中国机械工业联合会提出.本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口.本标准由无锡爱锡量仪有限公司和中原量仪股份有限公司负责起草.本标准主要起草人：王永祥、丁卫耘、古麦仓、汪晓辉、吉光宏.本标准所代替标准的历次版本发布情况为：JB/T74291994.
电子塞规
1范围
本标准规定了电子塞规的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志和包装等.
本标准适用于测量范围为6mm～130mm的两点式电子塞规.
注：其他形式（如三点式）的电子塞规也可参照使用.
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款.凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准.
GB9969.1-1998工业产品使用说明书总则GB/T14436-1993工业产品保证文件总则GB/T17163-1997几何量测量器具术语基本术语（neqBS5233：1986）
GB/T17164-1997几何量测量器具术语产品术语
3术语和定义
GB/T17163和GB/T17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准.
3.1
电子塞规electronicpluggauges
由电感式传感器将被测孔径的尺寸变化（实际尺寸与标称尺寸之差）转换为电信号，并由指示装置指示的直接比较测量器具.
3.2
测头对中误差contactvariationagainstcenter-line
系指以塞规导套直径作为基准中线，测头实际轴线偏离该基准中线而产生的测量误差.
3.3
测头对称误差contactsymmetricdiffcrence
系指位于塞规导套直径上，且触向相反的两测头触点部相对该塞规中心轴线的距离之差而产生的测量误差.
3.4
测头凸出量contact outstandrange
3.5
零位平衡zerobalance
系指指示装置在量程转换时，各档示值对零位的变化量.
4型式与基本参数
4.1型式
电子塞规由塞规体和指示装置组成，其型式见图1所示.图示仅供图解说明，不表示详细结构.
图1电子塞规
4.2基本参数
4.2.1规格范围及测头凸出盘
规格范围及测头凸出量见表1.
表1
mm
规格范围 测头凸出量“p6~g15 0.15~0.25>Φ15~Φ70 0.20~0.50>$70~p130 0.25~0.60测头凸出量所列值为双向值，单向值应为所列值的1/2.
4.2.2工作间隙
将塞规体插人被测孔后，在直径方向上，其导套最大尺寸与被测孔下偏差值间的间隙（工作间隙）应符合表2所列范围.
