GB/T 22319.7-2015 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量.pdf

ICS31.140 L21 GE 中华人民共和国国家标雅 GB/T22319.7-2015/IEC60444-7:2004 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件 活性跳变的测量 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 7:Measurement of activity dips of quartz crystal units (IEC 60444-7:2004 Measurement of quartz crystal unit parameters- Part 7:Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units IDT) 2015-06-02发布 2016-02-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T22319.7-2015/IEC60444-7:2004 前言 GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分： —第1部分：用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法； —第2部分：测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法； 一第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RL的测量方法及其 他导出参数的计算； 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法； —第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量； 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量； —第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具； —第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量. 本部分为GB/T22319的第7部分. 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本部分使用翻译法等同采用IEC60444-7:2004《石英晶体元件参数的测量第7部分：石英晶体元 件活性跳变和频率跳变的测量》. 本部分作了下列编辑性修改： —将表1中脚注“*”改为脚注“a”; —将3.3中评估公式序号(A)~(D)分别改为a)~d); 一删除评估公式a)前面的“频率跳变”和公式c)前面的“活性跳变”. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口. 本部分起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、唐山晶 源裕丰电子股份有限公司、郑州原创电子科技有限公司. 本部分主要起草人：章怡、梁生元、胡志雄、邹飞. GB/T22319.7-2015/IEC60444-7:2004 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件 活性跳变的测量 1范围 GB/T22319的本部分规定了在温度范围内石英晶体元件活性跳变的测量方法. 2术语和定义 下列术语和定义适用于本文件. 2.1 活性跳变activity dip 石英晶体元件在规定负载电容及激励电平下，在窄温度范围内由不同振动模式的耦合而引起负载 谐振频率和（或者）谐振电阻的不希望的变化（见图1及图2）. 2.2 频率跳变frequency dip(bandbreak) 石英晶体元件在窄的温度范围内发生的不希望的扰动或起伏，即负载谐振频率偏离了平滑而规则 的频率温度特性曲线，用一个多达五阶的多项式描述.通常呈现相关电阻的变化（见图2），该效应常与 激励电平有关系. 10 6 A 4 20 A 4--44-A-A-A-A-...