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GB/T 20521.12-2026 半导体器件 第14-12部分:半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法.pdf

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中华人民共和国国家标准

GB/T 20521.12-2026

半导体器件第14-12部分: 半导体传感器基于CMOS成像的 气体传感器的性能测试方法

Semiconductor devices-Part 14-12:Semiconductor sensorsPerformance test methods for CMOS imager-based gas sensors

国家标准化管理委员会 国家市场监督管理总局 发布

目次

前言引言1范围2规范性引用文件3术语和定义3.1通用术语3.2性能参数4测试环境条件 5测试系统5.1述5.2气体流量计5.3气管5.4气室5.5图像存储设备5.6图像分析系统6测试方法6.1测试前准备6.2灵敏度6.3检测限6.5响应时间 6.4选择性6.6重复性6.7稳定性7测试报告附录A(资料性) 基于CMOS成像的气体传感器的原理和类型 10A.1原理 10A.2类型 10附录B(资料性)测试报告模板 12参考文献 13

前言

本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草.

本文件是GB/T20521《半导体器件第14部分:半导体传感器》的第14-12部分.GB/T20521已经发布了以下部分:

第14-1部分:半导体传感器传感器总规范(GB/T20521.1-2026);第14-2部分:半导体传感器霍尔元件(GB/T20521.2-2025);第14-3部分:半导体传感器压力传感器(GB/T20522-2006);第14-5部分:半导体传感器PN结半导体温度传感器(20521.5-2025): 第14-4部分:半导体传感器半导体加速度计(GB/T20521.42025):第14-12部分:半导体传感器基于CM0S成像的气体传感器的性能测试方法(GB/T 20521.12-2026).

请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别专利的责任,

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出.

本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口.

本文件起草单位:之江实验室、浙江迈销生物科技有限公司、德玛克(浙江)精工科技有限公司、国科大杭州高等研究院、山东华光光电子股份有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、浙江大学、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院、浙江大学医学院附属部逸夫医院、公安部第三研究 所、中科微感(宁波)科技有限公司、中绍宣科技集团有限公司、长沙钛合电子设备有限公司、深圳市海曼科技股份有限公司、河南驰诚电气股份有限公司、珠海芯曜工研科技有限公司、深圳市瑞之辰科技有限公司、北京博视像元科技有限公司、深圳市斯科尔科技股份有限公司.

本文件主要起草人:王镇、崔瑶轩、曹罐龙、张建锋、朱贸、李振廷、王忠新、张芬妮、钟鑫、孙志学、李金鹏、周小华、杨军超、蔡壮钦. 吴德华、徐英莹、吴海、刘秀娟、沈文锋、刘彩霞、王亚飞、曾勇刚、黄永锋、班茜茜、徐卫锋、时学瑞、

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