GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）.pdf

ICS31.220.10 L23 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g: 阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR) Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-7:Test 25g: Impedance reflection coefficient and voltage standing wave ratio (VSWR) CIEC 60512-25-7:2004 Connectors for electronic equipment- Tests and measurements-Part 25-7:Test 25 g:Impedance reflection coefficient and voltage standing wave ratio(VSWR) IDT] 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004 目 次 前言…………… 1范围和目的………………………… 1 2术语和定义…… 1 3试验设施 2 3.1设备……… 2 3.2装置 3 4试验样品 4.1说明…… …4 5试验程序 … …4 5.1时域 …….4 5.2频域 ……………………5 6相关标准应规定的细则 …………………6 7试验记录文件 6 附录A(规范性附录)测量系统上升时间 ………8 附录B(资料性附录)样品近端和远端的确定…………………………11 附录C(资料性附录)校准标准和试验板标准线路…… …………12 附录D(资料性附录)TDR阻抗曲线图说明 ………………………………………… 15 附录E(资料性附录)电气终端 …….17 附录F(资料性附录)实用指南一一可变上升时间……… 19 附录G(资料性附录)电子测量用印制电路板的设计依据……… 20 附录H(资料性附录)试验信号发射构件………………………………… 24 GB/T5095.2507-2021/IEC60512-25-7:2004 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分. GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： —第25-1部分：试验25a:串扰比： —第25-2部分：试验25b:衰减（插人损耗）； ——第25-3部分：试验25c:上升时间衰减； —第25-4部分：试验25d:传输时...