ICS31-330 L90 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T3228.2—2016 代替SJ/T3228.2一1989 电子产品用高纯石英砂第2部分：分析 方法通则 High purity arenaceous quartz for used in electronics part 2 General specification for testing methods 2016-01-15发布 2016-06-01实施 A ASD SJ 中华人民共和国工业和信息化部发布 2016 SJ/T3228.2—2016 前言 SJ/T3228系列标准计划分下列部分： SJ/T3228.1电子产品用高纯石英砂第1部分技术条件； —SJ/T3228.2电子产品用高纯石英砂第2部分分析方法通则： 一SJ/T3228.3电子产品用高纯石英砂第3部分灼烧失量的测定； 一SJ/T3228.4电子产品用高纯石英砂第4部分一氧M化硅的测定： —SJ/T3228.5电子产品用高纯有砂 第5部1 类的测 SJ/T3228.6电子产 用高纯石英弟部 —SJ/T3228 电 品用高纯石英砂第7部分铬的测 —SJ/T3228.8子产 品用高纯石英砂第8部分铝的测定： SJ/T 3228.0 电子产品用高纯石英砂第10部分铅的测定 本部分为第2部分 本部分接照6B/T1.1-2009给出的规则起. 本部分代J3228.21989. 本部分与SD3228.2一989相要技术内容变化如下： 一增加了引月文件： NON IECHIN 一修改分析天平称量精度、试剂配制及分用水和试剂的纯度要求； —修改夫平砝码定期校正要求、 请注意本女件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本部分由全半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并口 本部分起草单上业和信息化部电了工业标准化研究院、国家硅材料深加工产品质量监督检验中 心、东海县产品质检验所. 本部分主要起草火：李运强、许振午、程尚栩、栾振祥、薄雷明、李建德冯亚彬、管琪. 本部分所代替标准的历次版本发布情况为： —SJ3228.2—1N 99 TANDARD I SJ/T3228.2—2016 电子产品用高纯石英砂第2部分：分析方法通则 1范围 本部分规定了高纯石英砂分析方法的般要求. 本部分适用于高纯石英砂的分析方法. 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件. 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件. GB/T6682分析实验室用水规格和试验方法 3要求 3.1所使用的分析天平称量准确精度应达到0.1mg. 3.2试剂配制及分析所用的水应为超纯水，电阻率应≥18M2Cm 同时符合GB/T6682中实...
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