JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范高清完整版.pdf

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可可F 中华人民共和国国家计量技术规范 JJF1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范 Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers 2010-01-05发布 2010-04-05实施国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范 Calibration Specification for JJF1236—2010 Semiconductor Device Curve Tracers 本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年1月5日批准，并自 2010年4月5日起施行. 归口单位：全国无线电计量技术委员会主要起草单位：中国电子技术标准化研究所参加起草单位：北京无线电仪器厂上海新建电子仪器有限公司本规范由全国无线电计量技术委员会负责解释 JJF1236-2010 本规范主要起草人：陈连启（中国电子技术标准化研究所）于利红（中国电子技术标准化研究所）刘冲（中国电子技术标准化研究所）参加起草人：蔡福明（北京无线电仪器厂）徐长风（上海新建电子仪器有限公司） ...

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