ICS 31.140 L21 SJ 备案号：
中华人民共和国电子行业标准 SJ/T10015-2013/IEC 60689:2008 代替SJ/T10015-1991
10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试 方法和标准值 Measurement andtestmethodsfortuningforkquartzcrystalunitsintherange from10kHzto200kHzandstandardvalues (IEC60689:2008,IDT)
2013-10-17发布2013-12-01实施
SJ中华人民共和国工业和信息化部发布
SJ/T 10015-2013/IEC60689:2008
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。
本标准代替SJ/T10015-1991《JU38和JU26型钟表用32kHz音叉石英晶体元件》，与SJ/T 10015-1991相比，主要技术变化如下： 扩展了适用频率范围，由原来的32.768kHz扩展为10kHz～200kHz； 由于扩展频段，取消了特定型号的限制： 取消了外形尺寸和重量的限制 标准值由A、B、类改为类 测量方法和润用GB/T12273-电子元器件质量评定体 系规范范》 删除检包装、贮存和运输。
本标准使用160689:2008《10kHz~200k的测试方法和标准 值》。
与本标准引用文件有一量位对应关系的我国文件如下： GB93（eqvISO1000:1992)。
本标准编辑性修 R用型网络零相位技术体元件的参数”改为体元件参数的测 第量图
“测试夹具等效电路”带负裁电容的测试夹具 3.8容-频特性改为“-负“在5.3中给”改为“在5.3.5 中给 4.1.6=谐振频率谐振频率 图4的标电桥法测试夹（无负载电容）”； 4.2.4中 -5.2c）中“1 -5.2f的公式（7）改为公式（7）； 5.2公式（7）中V²改为V 图7中温度“+60”改为“60” 表1中“RC23C”改为“RS232C”； 表2中“支架效应”改为“耐焊接热”； ，，，，中 激励电平”放在“振动”之前。
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本标准由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会（SAC/TC182）归口。
本标准起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会、湖北泰晶电子科技有限公司。
本标准主要起草人：章怡、喻信东。
本标准于1991年4月首次发布，本次为第一次修订。
SJ/T 10015-2013/IEC60689:2008
10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值
1范围
2规范性引用文件
件，仅所注日期的版本适用于本文 件。
凡是不注日期的引用本文件。
GB/T4728电气(IEC 60617，IDT) GB/T 12273-晶体元件电子元器件质量评定体系规范总规范（IEC61178-1： 1993, IDT) IEC 60027用nbols tobe usee lectrice technon gy) IEC )国际木词汇第561部分：频系控制和选择用压电器件（Intemational electrotechnica lary561:Piezoelectricdevicesforroquencycontrlection) IEC 6012率控制18蜂用谷英体元件第三部分：标准外形及引瑞年（Quartz crystal units of assess edquali-Partconnect IEC 604 R晶体元数的测量tofqu tystalunits rs) ISO1000992国际menda ortheuseof theirmultipl cer 3概述MINIST 3.1总则2014 单位、图形符号、应尽可能从下列标准 GB/T 4728； GB/T 12273-1996； -ISO1000:1992； -IEC 60027； IEC 60050(561); 3.2适用频率 频率范围为10kHz~200kHz。
3.3测量方法 应按照IEC60444的规定。
允许使用电桥法作为简化的测量方法。
注：不推荐其他方法（如Lissajous法或振荡器法）测量等效电路参数。
SJ/T 10015-2013/1EC60689:2008 3.4负载电容 目前常用的负载电容值为8pF，10pF，12pF，15pF，20pF和30pF。
3.5推荐的激励电平 目前常用的激励电平为0.1μW。
3.6测量条件 测量条件在5.2给出。
3.7频率-温度特性 频率-温度特性的测量在5.3给出。
3.8频率-负载...
