ICS29.045 H80 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体 缺陷密度测定方法 Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer 2018-12-28发布 2019-04-01实施 国家市场监督管理总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 37051-2018 目 次 前言 I 1范围 1 2规范性引用文件 3方法概要1 4试剂和材料 1 5仪器和设备 2 6试样制备 2 7测试步骤 2 8数据处理4 9精密度 5 10干扰因素5 11报告 6 GB/T37051-2018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)归口. 本标准起草单位：英利集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、江西赛维LDK太阳能高科技 有限公司、泰州中来光电科技有限公司、晋能清洁能源科技有限公司、镇江仁德新能源科技有限公司、天 津英利新能源有限公司. 本标准主要起草人：李锋、李英叶、段青春、张伟、吴翠姑、冯亚彬、裴会川、程小娟、唐骏. I ...
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