ICS31.200 L55 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11704—2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 Digital signal transmission test method for microelectronic packages 2018-02-09发布 2018-04-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T117042018 前言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会(SAC/TC78/SC2)归口. 本标准主要起草单位：巾国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大 ND 学、中国电子科技集团公司第五七从研究所 OF INDUSTRI 本标准为首次发布 ULSININ SJ STANDARDS SJ/T11704—2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 1范围 本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直 流串联电阻的测试方法. 本标准适用于高频数字微电子封装 2规范性引用文件 CRY AND 下列文件对于水文 MANON TECHNO 的应用是必不可少的.凡是注日期的引用 期的版本适用于木文件， 凡是不注日期的用件 牛，其最新版本（包括的修改单）适用子 GJB548救电 器件试 3术语和定义及符号 6 下列术语、定义及符号 3.1术语和定义 3.1.1 SJ 特性阻抗racteristic impedan 某一段传输线勇于其电阻和电感对电容的比值所呈现的阻抗. 3.1.2 传输延迟时间transmission delay time 具有一定驱动限抗的驱动器产生的脉冲在某一段传输线上产生的 3.2符号 R:电阻； TANDARO L:电感； C:电容： pd:传输延迟时间： Zo:特性阻抗： :引线长度. 4一般要求 4.1测试环境 除另有规定外，测试环境（温度、气压等）应符合GB548的相关规定. 1 ...
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