ICS71.040.50 CCS N 33 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T43087-2023 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法 Microbeam analysis-Analytical electron microscopy-Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials (ISO20263:2017 MOD) 2023-09-07发布 2024-04-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T43087-2023 目 次 前言 Ⅲ 引言 V 1范围 1 2规范性引用文件 1 3术语、定义和符号 1 3.1术语和定义1 3.2符号 3 4截面试样的制备 3 4.1通则 3 4.2截面试样的要求 4 5界面位置的确定4 5.1概述 4 5.2准备工作 4 6界面位置测定步骤6 6.1概述 6 6.2截面TEM像/STEM像的获取 8 6.3R○I的设置 9 6.4均值强度曲线的获取14 6.5移动平均处理 16 6.6差分处理 .17 6.7界面位置的确定 17 7不确定度 18 7.1处理过程中各个步骤累积的不确定度18 7.2图像分析中测量结果的不确定度 .18 附录A(资料性)三种类型实际TEM像/STEM像的处理示例20 A.1概述 .20 A.2类型1图像的处理示例 20 A.3类型2图像的处理示例 22 A.4类型3图像的处理示例 25 附录B(资料性)本方法的两个主要应用30 B.1概述 .30 B.2应用1：层厚的测量30 B.3应用2：图像放大倍数的校准 32 I ...
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