GB/T 5594.5-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法.pdf

体积,控温,电板,电阻率,陶瓷材料,推荐性国家标准
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中华人民共和国国家标准

GB5594.5-85

电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 体积电阻率测试方法

Testmethodsforpropertiesofstructure ceramic used in electronic ponentsTest method for volume resistivity

国 家 标准 局 批准

中华人民共和国国家标准

电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 体积电阻率测试方法

UDC 621.315.612/.387:620.1 :621.382GB5594.5-85

Test methods for properties ofstructure ceramic used in electronic ponents Test method for volume resistivity

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500C范围体积电限率的测定.

1测试原理

陶瓷材料的体积电阻率是表征其绝缘性能的参数,其值为试样体积电流方向的直流电场强度与该处电流密度之比.当试样面积为4,试样厚度为!,其体积电阻值为Ry,则体积电阻率P为:

-(1)

陶瓷材料一般具有负的电阻温度系数,其电阻率随温度的升高而下降.

2试样制备

2.1按GB5593一85《电子元器件结构陶瓷材料》的要求选取试样. 2.2将试样进行清洗、干燥处理.2.3在试样的两平面上按GB5593-85表2和本标准图1所示烧渗-层银电极.

图1测试样品示意图

1-测量电极:2-绝缘距:3一保护电板

3测试仪器和装置

3.1测试装置示意图如图2所示.

图2连接示意图

1一电阻测量仪:2-热电满:3一温度指示控制仪;4-保护电极压块; 5一测量电极压块:6-试样:7-高压电极:8-加热炉丝:9-炉账:0

3.2电阻测量仪:可采用高阻表或检流计等仪器,电阻测量范围应达10~172,测最误差应小于± 15%

3.3加热炉(箱):选用合适的电炉或电烘箱,应保证温度均匀,其内壁应设置接地屏蔽罩,屏藏罩内可用不锈钢或其他耐高温,防腐蚀的金属材料制成.

3.4温度控制仪:可用自动或手动控温,控温范围为室温至500C,温度误差应不超过5℃.

3.5电极压块:可用银制成,与样品接触面应平整,保证样品与压块的接触良好.

4测试步骤

4.1按图2要求连接好测试装置.4.2用精度不低于0.05mm的卡尺测量试样的测量电极直径和试样厚度. 4.3将试样放人测试装置中.4.4将加热炉升至规定的测试温度,保温15min.

4.5在试样上加不大于500V的直流电压,1min后即可在电阻测量仪上读数.

5计算公式

测量结果按下式计算:

Py =0.785 d.Ry ( 2 )f

式中:P体积电阻率,Q.cm

R-试样体积电阻值,Q;

d-测量电极直径,cm;

-试样厚度,cm.

附加说明:

本标准由中华人民共和国电子工业部提出.本标准由南京电子管厂负责起草.本标准主要起草人王明珍、赵小伟.

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