中华人民共和国国家标准
GB/T6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
Semiconductorintegrated circuitsGeneral principles ofmeasuringmethodsofvoltageparators
国家技术监督局 发布
目 次
1主题内容与适用范圈 2引用标准3总的要求4电特性测试.4.1输入失调电压Vo 24.3输入失调电流. 4.2输入失调电压温度系数v0 34.4输入失调电流温度系数4.5输入偏置电流Im h4.6输入偏置电流温度系数a 4.7静态功耗P 64.8开环电压增益AvD 74.9共模抑制比KaR 104.10 最大共模输入电压VM 电源电压抑制比KsvR 134.11 4.12 最大差模输入电压Vmm 13 154. 13 输出高电平电压VoH 164.14 输出低电平电压Va 164.15 高电平输出电流Io 174.16 4. 17 开环差模输入电阻R 低电平输出电流Iox. 18 194.18 开环单端输出电阻Ros 194.19 低电平选通电流Ist） 204. 20 高电平选通电流Isr） 214.21响应时间tn 4.22选通延迟时间tsr 23附录A电参数符号（补充件）
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
GB/T 6798-1996
Semiconductor integrated circuitsGeneral principles of measuring methodsof voltage parators
代替GB6798-86
1主题内容与适用范围
本标准规定了半导体集成电路电压比较器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理，本标准适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试.
2引用标准
GB3431.1半导体集成电路文字符号电参数文字符号
3总的要求
3.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定.3.2测试期间，应逊免外界干扰对测试精度的影响.测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的 规定.3.3测试期间，施于被测器件的电源的内阻在信号频率下应基本为零；电源电压的偏差应在规定值的土1%以内.施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定.3.4在被测器件线性工作区测试时，交流小信号幅度的逐新减小不应引起参数值的变化.3.5被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件. 3.6若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源.3.7测试期间，被测器件应连接详细规范规定的辅助电路和补偿网络.3.8测试期间，被测器件应避免出现自激现象.3.9若电特性值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短. 3.10采用辅助放大器（A）与被测器件（DUT）构成闭合环路的方法测试时，基本测试原理图如图1所示.
图1
辅助放大器应满是下列要求：
b.输入失调电流和输入偏置电流应很小； a.开环增益大于60dB；c.动态范围足够大.环路元件应满足下列要求：a满足下列表达式R IV; R<RutRs《RR.式中：lu被测器件的输入偏置电流，mA；Vx-被测器件的输入失调电压，V；Rs辅助放大器的开环单端输出电阻， R-被测器件的开环差模输入电阻.；b.R/R，值决定了测试精度，但须保证辅助放大器在线性区工作.
3.11对MOS器件，测试期间测试设备或操作者应避免因静电感应而引起器件失效.
3.12本标准使用的电参数文字符号按GB3431.1和附录A（补充件）的规定.
4电特性测试
4.1输入失调电压V
4.1.1目的本方法用于测试使输出电压为规定值时，两输入端间所加的直流补偿电压.
4.1.2测试原理图 V的测试原理图如图2所示.
图2
4.1.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定.
环境或参考点温度：a. b.电源电压；c.输出规定电压：e.环路条件； d.输出负载；f.共模输入电压：8.其他引出端条件及辅助网络.
4.1.4测试程序
4.1.4.1按器件详细规范规定的环境条件及应接的输入、输出网络，将被测器件接入测试系统中.
4.1.4.2接通规定的电源电压.按规定的输出电压，选择相应的测试程序.
4.1.4.3开关S接通负平衡电压-Vos-从辅助故大器“A"输出端测得VLom.则对应输出规定电压V的输入失调电压为：
4.1.4.4开关S接通负输出高电平-Va时，测得VLoc，此时对应的输入失调电压为：
4.1.4.5开关S接通负输出低电平-Va时，测得VLoL，此时对应的输入失调电压为：
取Vxn）、Vo中大者为对应输出规定上、下限电压的输入失调电压Vn
4.2输入失调电压温度系数v0
4.2.1目的
本方法用于测试输入失调电压随环境温度的变化率.
4.2.2测试原理图
avo的测试原理图同Vo的测试原理图，如图2所示.
4.2.3测试条件
