UDC621.382:681.11 L55
中华人民共和国国家标准
GB/T 14030-92
General principles of measuring methodsoftimer circuits for semiconductorintegrated circuits
国家技术监督局 发布
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理
GB/T 14030-92
General principles of measuring methodsof timer circuits for semiconductor integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路时基电路（以下简称器件或时基电路）电参数测试方法的基本原理.
电路测试方法的基本原理》. 时基电路与CMOS电路相同的静志参数和动态参数测试可参照GB3834（半导体集成电路CMOS
1总的要求
1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定，
1.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定，
1.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响.测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定.
1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件，
1.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源.
1.6测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络.
1.7若电参数值是由几步测试的结果经计算面确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短.
1.8本标准的参数定义按如下规定的真值表给出，如被测器件与本规定不符合时，可对测试电路进行相应的调整.
引出端名称 阀值端 鞋发增 复位端 输出端引出端符号 TH TR RES OUTx x L L规范 X L H HH H H H
表中：L为低电平，H为高电平，X为任意电平.
2参数测试
2.1复位电压V2.1.1目的在器件输出电压为低电平时，测试复位端施加的监界输入电压.2.1.2测试原理图
V测试原理图见图1.
图1
2.1.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定.
电源电压.
a.环境温度；
2.1.4测试程序
2.1.4.1将被测器件接入测试系统中.
2.1.4.2接通电源.
2.1.4.3触发编接地，在复位端接输入电压V.调节V，使输出电压Vo翻转为低电平时，读取输入电压V值，即为Vx.
2.2复位电流I
2.2.1目的在复位电压范围内，测试流经复位端的最大电流.
2.2.2测试原理图I测试原理图见图2.
图2
2.2.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定.
a.环境温度；
b. 电源电压：
e. 复位电压范围.
2.2.4测试程序
2.2.4.1将被测器件接入测试系统中.
2.2.4.2接通电源.
2.2.4.3在复位端输人电压V，调节V在规定的复位端输入电压范围内，读取复位端的最大电流值即为1k.
2.3触发电压Vm
在器件输出电压为高电平时，测试触发端施加的临界电压.
2.3.2测试原理图Vm测试原理图见图3.
图3
2.3.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定.
a.环境温度；
b.电源电压.
2.3.4测试程序
2.3.4.1将被测器件接入测试系统中.
2.3.4.2接通电源，并将复位端和阔值端接电源电压.
2.3.4.3在触发端输入电压V，调节V.使输出电压V.为高电平时，读取输入电压V，值，即为Vm.
2.4触发电流/
2.4.2测试原理图
I测试原理图见图4.
2.4.3测试条件
a.环境温度；b.电源电压：c.触发电压范围.
2.4.4测试程序
2.4.4.1将被测器件接入测试系统中.
2.4.4.2接通电源
2.5阔值电压V
2.5.2试原理图 V测试原理图见图5.
2.5.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定，
2.5.1目的在器件输出电压为低电平时，测试阔值端所施加的临界电压，
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定.
图 4
图5
