中华人民共和国国家标准
GB/T14031-92
General principles of measuringmethods ofanaloguephase-loopfor semiconductorintegratedcircuits
国家技术监督局 发布
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路模拟锁相环 测试方法的基本原理
GB/T 14031-92
General principles of measuring methods ofanalogue phase-loop for semiconductorintegrated circuits
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环）电参数测试方法的基本原理.
试方法的基本原理》. 模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439半导体集成电路TTL电路测
模拟锁相环与运算放大器相同的静态和动态参数测试可参照GB3442（半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》.
1总要求
1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合详细规范的规定.1.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定.1.3测试期间，施于被测器件的电参量的精度应符合器件详细规范的规定.1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件. 1.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源.1.6测试期间，被测器件应按器件详细规范的规定连接外围网络.锁相环处于闭环状态.1.7测试期间，被测器件应避免出现自激现象.1.8若电参数值是由几步测试的结果经计算确定的，这些测试的时间间隔应尽可能短.
2参数测试
2.1跟踪输入电压VA
2.1.1目的2.1.2测试原理 在规定中心额率和规定频偏下，测试锁相环保持跟踪的最小输入电压.锁相环接成闭环，跟踪输入电压的测试原理图如图1所示.
图1
2.1.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合被测器件详细规范的规定.
a.环境温度；b.电源电压； c.外围网络；d.压控报荡器外接定频电阻、定频电容.
2.1.4测试程序
2.1.4.1将被测器件接入测试系统.
2.1.4.2接通电源
2.1.4.3调节调频信号发生器的输出，使交流电压表指示为零，调节压控振荡器外接定频电阻或定额电容，使其中心频率在规定值f.上.
2.1.4.4调节调频信号发生器输出正弦调额波按式（1）计算：
(1)
式中：f-中心颜率；
△f规定频偏；
f调制信号频率.
2.1.4.5调节调频信号发生器的输出幅度，使锁相环进入跟踪（锁定）状态.用示波器在解调输出端观 察跟踪情况，调节调频信号发生器的输出幅度、使其由大到小连续缓慢变化，当环路失锁的一瞬间，交流电压表指示的电压值，即为跟踪输入电压.
2.2中心频率最大值fm
2.2.1目的
在无调频信号输入，压控振荡器输出波形的静态参数和动态参数均在规范值时，测试压控振荡器中心额率的最大值.
2.2.2测试原理
、锁相环接成闭环，无调额信号输人，使压控振荡器的控制电压恒定，压控振荡器处于中心颗率工作状态，中心频率最大值的测试原理如图2所示.
图2
2.2-3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合被测器件详细规范的规定.
a.环境温度： b.电源电压；c.外围网络：d.压控振荡器外接定频电阻、定颗电容.
2.2.4测试程序
2.2.4.1将被测器件接入测试系统.
2.2.4.3调节压控振荡器的定额电阻、定频电容，使压控振荡器频率由低到高变化，同时监视压控振荡器的输出波形，其输出电平，响应时间，占空系数均在规范值内.此时，压控振荡器能达到的最高频率即是中心频率最大值.
2.3.2测试原理中心频率偏离测试原理图如图3所示.
图3
2.3.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合被测器件详细规范的规定.
b.电源电压； a.环境温度：c.外围网络：d. 压控振荡器外接定频电阻、定频电容.
2.3.4测试程序
2.3.41将被测器件接入测试系统.
2.3.4.2接通电源
2.3.43用数字频率计读出实际频率值f.
2.3.4.4按式（2）计算中心颜率偏差：
(2)
式中f--实测频率：
f-中心频率设计值.
2.4中心额率温度系数a
2.4.1目的
在规定工作温度范围内，测试单位温度变化所引起的压控振荡器中心频率的相对变化.
2.4.2测试原理
中心颜率温度系数测试原理图如图4所示.将被测器件置于恒温系统中.
