中华人民共和国国家标准
GB/T 17444-2013代替GB/T17444-1998
红外焦平面阵列参数测试方法
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
目 次
前言1范围 2术语和定义3符号和单位4测试方法4.1方法3001：响应率和响应率不均匀性4.2方法3002：噪声电压4.3方法3003：探测率4.4方法3004：噪声等效温差 4.5方法3005：有效像元率4.6方法3006：固定图形噪声 10 114.7方法3007：噪声等效功率 114.8方法3008：饱和辐照功率 124.10方法3010；相对光谱响应 4.9方法3009：动态范围 13 124.11方法3011：读出速率、顿频 144.12方法3012：串音 15附录A（规范性附录） 响应率的其他表示 17附录B（规范性附录） 空间噪声 18附录C（资料性附录） 备用特性参数及相关量 19附录D（资料性附录） 调制传递函数测试方法 20附录E（资料性附录） 附录F（规范性附录） 一种推荐算法 非线性度测试方法 22
前言
本标准按照GB1.1-2009给出的规则起草.
相比主要变化如下： 本标准代替GB/T17444-1998红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》，与GB/T17444-1998
标准名称修改为（红外焦平面阵列参数测试方法》.一增加了一些参数定义，如：红外焦平面阵列、像元、帧频、行频、固定图形噪声、平均峰值探测率、一增加一些参数测试方法，如：固定图形噪声、读出速率、顿频. 饱和信号电压、像元噪声等效温差.-增加了附录D调制传递函数测试方法）附录E（非线性度测试方法》.修改了部分参数的名称和定义，如：积分时间、读出速率、辐照功率、辐照能量、饱和辐照功率、死像元、过热像元、噪声等效功率.修改了部分参数的测试方法，如：响应率、噪声电压、噪声等效温差、探测率、动态范围、相对光 谱响应、串音.
本标准主要起草人：丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军.
红外焦平面阵列参数测试方法
1范围
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义.本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件.本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列.
2术语和定义
下列术语和定义适用于本文件.
2. 1 红外焦平面阵列infrared focal plane arrays;IRFPA对红外辐照（以下简称辐照）敏感的探测器阵列并带有读出电路的器件，简称红外焦平面.
2.2像元pixel 红外探测器阵列的敏感单元.
2. 3皖周期frame period面阵红外焦平面一帧信号积分和读出所需要的时间.
2.4 频frame frequence面阵红外焦平面在1s时间内的信号输出顿数.
2.5行周期line period 红外焦平面一行信号积分和读出所需要的时间.
2. 6行频line frequence红外焦平面在1s时间内的信号输出行数.
2. 7 积分时间integration time在帧周期或行周期内，红外焦平面累积辐照产生电荷的有效时间.
2.8读出速率pixel rate 红外焦平面像元信号读出的速率.
2.9电荷容量charge capacity红外焦平面能容纳的最大信号电荷数.
2. 10 辐照功率irradiation power人射到一个像元上的总功率.
