中华人民共和国国家标准
GB/T29299-2012
General specification of semiconductor laser rangefinder
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
目 次
前言1范围3术语和定义 2规范性引用文件4要求4.1技术要求4.2性能要求4.3环境适应性要求5试验方法 4.4可靠性要求5.1技术要求试验5.2性能要求试验5.3环境适应性要求试验6检验规则 5.4可靠性要求试验6.1 一般规则6.2 鉴定检验6.4出厂检验 6.3型式检验6.5检验项目6.6抽样方案及合格或不合格判断7包装、运输、标志7.1包装 7.2运输7.3标志
前言
请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草本标准由中国机械工业联合会提出.本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会（SAC/TC284）归口.本标准负责起草单位：湖北华中光电科技有限公司.本标准参加起草单位：孝感华中精密仪器有限公司、湖北富华精密光电有限公司. 本标准主要起草人：刘博、朱晓旭、程刚、张红坤、周泽武.
半导体激光测距仪通用技术条件
1范围
本标准适用于半导体激光测距类仪器. 本标准规定了半导体激光测距仪的要求、试验方法、检验规则、包装、运输和标志等内容.
2规范性引用文件
件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件.GB/T4857.5包装运输包装件跌落试验方法GB/T4857.10包装运输包装件基本试验第10部分：正弦变额振动试验方法GB7247.1激光产品的安全第1部分：设备分类、要求和用户指南 GB/T10320激光设备和设施的电气安全GB/T12085.2光学和光学仪器环境试验方法第2部分：低温、高温、湿热GB/T12085.7光学和光学仪器环境试验方法第7部分：滴水、淋雨GB/T12085.11光学和光学仪器环境试验方法第11部分：长霉GB/T13384机电产品包装通用技术条件GB/T13739激光光束宽度、发散角的测试方法以及横模的鉴别方法
下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文
GB/T15313激光术语
3术语和定义
GB7247.1和GB/T15313界定的以及下列术语和定义适用于本文件.
3. 1激光测距仪laserrangefinder
用激光作光源对目标测距的光电仪器.
用半导体激光作光源的激光测距仪器.
最大测程maximumrange
在规定大气条件下，对规定目标达到规定的测距准测率时，半导体激光测距仪所能探测到的最远距离，
GB/T 29299-2012
3.4
最小测程minimumrange
距离 在规定大气条件下，对规定目标达到规定的测距准测率时，半导体激光测距仪所能探测到的最近
半导体激光测距仪测量的目标距离与标定的目标距离的误差.
3.6 测距重复频率rangingrepetition frequency半导体激光测距仪每秒钟完成的测距次数.
3.7 准测率measuringaccuracy激光测距仪达到规定测距精度的测距率.
4要求
4.1技术要求
4.1.1安全性
半导体激光测距仪的电气安全性应符合GB/T10320，激光安全性应符合GB7247.1的规定.
4.1.2重量、外观
半导体激光测距仪的重量、外观应符合下列要求：
a）重量、外形尺寸符合产品设计要求： b）外观涂、镀层应牢固，不应有褪色、剥落和锈斑.相同涂、镀层颜色应均匀一致：c）外观不应有划伤、裂口、缩癌、尖利骼口、脱漆、扭曲等缺陷.
4.1.3电源适应性要求
波动范围内的标准容量可以正常测距的次数或连续测距的工作时间. 采用交流电源供电时，应满足220×（1土10%）V，规率50Hz；采用电池供电时，应给出在额定电压
4.1.4反接保护
电源极性反接状态时，不应损坏. 电源的极性在半导体激光测距仪上应有明显标志，半导体激光测距仪应具有反接保护功能，出现
4.1.5功能显示
半导体激光测距仪显示内容应清晰明亮，且有如下显示功能：
a）准备显示；b）距离显示；c）超测程显示；d）电源低电压显示.
4.1.6内部清洁度
半导体激光测距仪内部清洁度应符合下列要求：
