中华人民共和国国家标准
GB/T34362-2017
无损检测 适形阵列涡流检测导则
Non-destructive testing-Guide for eddy current testing usingconformable sensor arrays
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
目次
前言1范围.2规范性引用文件3术语和定义4方法概要5意义与用途6人员资格7影响因素 8设备要求9校准10检测步骤11检测报告
前言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草.
本标准由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56）提出并归口.
测研究院、西安交通大学、国核电站运行服务技术有限公司、中国铁道科学研究院. 本标准起草单位：爱德森（厦门）电子有限公司、空军装备研究院航空所、厦门大学、中国特种设备检
本标准主要起草人：林俊明、雷洪、曾志伟、沈功田、陈振茂、叶琛、胡斌、黄风英.
无损检测适形阵列涡流检测导则
1范围
本标准规定了利用适形涡流阵列传感器检测导电材料的不连续及材料质量的无损检测方法.所述率、磁导率、表面租度及与电导率或磁导率相关的其他属性. 不连续包括材料表面的断裂、裂纹、点蚀及材料近表面的材料损失.所述材料质量包括涂层厚度、电导
本标准适用于非磁性、磁性金属材料及含有导电组分的复合材料.被检件可以带涂层或不带涂层，表面形状可以是平面或曲面.
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件.
GB/T9445无损检测人员资格鉴定与认证GB/T12604.6无损检测术语涡流检测GB/T20737无损检测通用术语和定义
3术语和定义
GB/T12604.6和GB/T20737界定的以及下列术语和定义适用于本文件.
3.1
B-扫描B-scan
一种数据显示方法，横坐标代表探头沿着被检件表面移动的距离，纵坐标代表被检件的测量响应.3.2
C-扫描C-scan
一种对被检件表面进行二维测量响应的数据显示方式，横坐标和纵坐标代表探头在被检件表面的位置，像素色彩或灰度代表被检件的测量响应.
3.3
适形conformable
传感器或阵列传感器与工件形面耦合，耦合误差对测量结果的影响在可接受范围内.
3.4
检测深度depthof sensitivity
注：一般来说灵敏度深度小于渗透深度.因为灵敏度深度是将拾取的信号与噪声对比得到的当量，面渗透深度是 传感器对要检测的属性的响应超过噪声阔值时该属性所处深度值.表征场强沿深度方向的衰减.
3.5
无不连续参考试块discontinuity-free reference standard
被检材料无不连续的一部分或者与被检材料有着相同电磁属性并不含不连续的试块.
GB/T 34362-2017
9'
含有不连续参考试块discontinuity-containingreference standard
被检材料中有已知不连续的部分或者与被检材料有着相同电磁属性并含有已知不连续的试块.
激励绕组drive winding
注：激励绕组可以有不同的几何分布，包含：a1一个简单的线性驱动导体-置于一维阵列传感器之上：b）一个或多个 一个能产生电磁场并使之与被检材料耦合的导体分布或线圈.导电回路受激励后可产生复杂磁场分布：c1多个导电回路每个导电回路对应一个传感器.
3.8
绝缘片insulating shims
基本不导电或绝缘的柔性薄片，用于测量微小提离对传感器响应的影响.
3.9
提离lift-off
适形传感器绕组导体与被检材料表面的垂直距离.
3.10
传感器响应模型model for sensor response
传感器响应（例如，电阻抗幅值和相位或者实部和虚部）和所关心的属性（例如，电导率、磁导率、提离和材料厚度）在至少一个阵元和至少一个激励绕组间的关系.
3.11
阵元sensingelement
测量磁场密度或其变化率的一个装置，比如一个感应线阉或一个固态器件.注：一维或二维分布的阵元可测量与磁场相关的绝对信号，也可测量差分信号.
3.12
空间半波长spatial half-wavelength
注：此间距影响灵敏度深度.空间波长等于此间距的两倍.对于环形激励绕组，有效空间半波长等于激励绕组 电流方向相反的两个相邻线性激励绕组间的距离.直径.
3.13
系统性能验证systemperformanceverification
证系统校准及仪器的正确使用. 在参考件试块上测量一个或多个响应（通常转换为物理属性值），根据其是否处于规定范围内来验
4方法概要
4.1本检测方法以一个或多个频率的交变电流激励适型涡流阵列传感器，并将其置于被检工件表面进 行扫查.当阵列传感器接近工件时，每个阵元的响应发生变化.变化的程度取决于阵列传感器和工件的间距，以及工件的尺寸规格和电磁特性（电导率和磁导率）.材料中的冶金不连续或机械不连续会改变阵元的电阻抗，当对工件进行扫查时，系统会记录每个测量位置及该位置上阵列传感器中每个阵元的响应.测得的响应和位置信息一般以C扫描或B扫描形式显示，用于确认材料特性变化或不连续的存在及特征.
4.2用于检测的涡流阵列传感器是柔性的，并带有一个合适的背层，可贴合平面及曲面（包括圆角及柱 2
