中华人民共和国国家标准
GB/T38061-2019
纳米二氧化铈
Cerium dioxide nanomaterial
中国国家标准化管理委员会 国家市场监督管理总局 发布
前言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草.
本标准由中国科学院提出
本标准由全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会（SAC/TC279/SC1）归口.
本标准起草单位：国家纳米科学中心、内蒙古新雨稀土功能材料有限公司、深圳市祥根生物科技有限公司、宣城晶瑞新材料有限公司、冶金工业信息标准研究院、中国科学院过程工程研究所.
本标准主要起草人：王奇、冀代雨、黄生宏、王震、沈根利、刘密、张东慧、高洁、王孝平、徐勇、侯慧宁、陈运法.
纳米二氧化铈
1范围
本标准规定了纳米二氧化铺的要求、试验方法、检验规则、标志及质量证明书、包装、运输及贮存.分子式：CeO 本标准适用于近球状的纳米二氧化铺粉体材料.
相对分子质量：172.11（按2015年国际相对原子质量）.
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件.
GB/T6678化工产品采样总则 GB/T191-2008包装储运图示标志GB/T6682-2008分析实验室用水规格和试验方法GB/T8170-2008数值修约规则与极限数值的表示和判定GB/T12690.2稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法第2部分：稀土氧化物中灼减量的测定重量法 GB/T14635-2008稀土金属及其化合物化学分析方法稀土总量的测定轧、试、铺、钦、饵、锤、镜、鲁和钇量的测定GB/T19587气体吸附BET法测定固态物质比表面积 HG/T3696.1无机化工产品化学分析用标准溶液、制剂及制品的制备第1部分：标准滴定溶液的制备HG/T3696.2无机化工产品化学分析用标准溶液、制剂及制品的制备第2部分：杂质标准溶液的制备 HG/T3696.3无机化工产品化学分析用标准溶液、制剂及制品的制备第3部分：制剂及制品的制备
3要求
3.1外观：奶白色或淡黄色粉末，无目视可见夹杂物.
3.2纳米二氧化锦应符合表1要求.
表1性能指标
序号 稀土总量（REO）的质量分数/% 项目 00°66 指标 试验方法 4 2.11 2 稀土杂质的质量分数/% ≤0.10 4 .2.23 非稀土杂质（Fe:O）的质量分数/% ≤0 006 4 2.3
表1（续）
序号 项目 指标 试验方法非稀土杂质（SiO：的质量分数/% ≤0.01 4 2.3非稀土杂质（CaO）的质量分数/% ≤0 035 4.2.3非稀土杂质（C1>的质量分数/% ≤0 035 4.2.37 灼减（质量分数）/% ≤1.00 4.2 3二氧化铺（CeO/REO）的质量分数/% 0656 4.2.4电镜平均粒径/nm ≤100 4 3 110 XRD线宽化法平均晶粒度d/nm 比表面积（BET）/(m²/g) 50 4.3.2 4 411 12 团聚指数T 200 4 5
4试验方法
警示：本试验方法中使用的部分试剂具有毒性或腐蚀性，操作者应小心谨慎！如溅到皮肤上应立即用水冲洗，严重者应立即就医治疗.使用易燃品时，严禁使用明火加热.
4.1一般规定
本标准所用试剂和水在没有注明其他要求时，均指分析纯试剂和GB/T6682-2008中规定的三级水，试验中所用标准滴定溶液、制剂及制品，在没有注明其他要求时，均按HG/T3696.1、HG/T3696.2、HG/T3696.3的规定制备.
4.2二氧化铺及杂质含量的测量
4.2.1稀土总量（REO）的分析按GB/T14635-2008中方法1的规定进行.4.2.2稀土杂质的分析按GB/T18115.2-2006规定的方法进行.4.2.3非稀土杂质及灼减的分析按GB/T12690.2规定的方法进行.4.2.4二氧化铺含量的计算：CeO：/REO=[1-稀土杂质/稀土总量（REO）]×100%.
4.3粒度的测量
4.3.1电镜平均粒径的测量
取二氧化铺试样，以水和乙醇的混合液体（体积比1：1）作溶剂，经超声振荡仪分散后，取1～2滴于制样薄膜上，置于电子显微镜的样品台上，在约10万放大倍数下，选择颗粒明显、均匀和集中的区域，径d，（可用计算机软件进行统计处理），取算术平均值.按式（1）计算平均粒径∞1 用照相机摄下电子显微镜图.在照片上用纳米标尺测量不少于100个颗粒中每个颗粒的长径d：和短
式中：
-微粒的平均粒径，单位为纳米（nm）； d一微粒的长径，单位为纳米（nm）；
d-微粒的短径，单位为纳米（nm）；
n微粒的个数.
4.3.2X-衍射（XRD）线宽化法平均晶粒度的测定
的28.4°半峰宽作基准半峰宽β，通过测定二氧化铺样品的28.6晶面的衍射峰的半峰宽户.用式（2） 调节衍射仅增益使被测晶面衍射峰高度在记录范围内得到最大值，测量多晶硅标准样品，以多晶硅谢乐公式计算平均晶粒度d：
式中：
d一晶粒垂直于晶面方向的平均厚度，单位为纳米（nm）；实测样品衍射峰的半峰宽（应进行双线校正和仪器因子校正），在计算的过程中，需转化为弧度（rad）：-一衍射角在计算的过程中需转化为弧度制（rad）； X射线波长.为0.154nm
4.4比表面积的测定
称取约0.6g二氧化钟样品，精确至0.001g，按GB/T19587规定的方法测定比表面积（BET）.
4.5团聚指数的测定
称取约0.05g二氧化铺样品，置于50mL烧杯中，加2~3滴六偏磷酸钠分散液，用玻璃棒搅匀润湿分散，再加10mL~20mL水，用功率250W的超声分散10min.按激光粒度仪（测量范围：0.01μm~3500μm）进样要求测定体积平均粒径D：由4.3.2获得平均晶粒度d.按式（3）计算团聚指数T：
式中：
T二氧化铺样品团聚指数；D-分散后激光粒度分析仪得出团聚颗粒粒径平均值，单位为纳米（nm）；d-4.3.2获得的平均晶粒度，单位为纳米（nm）.
5检验规则
5.1本标准采用型式检验和出厂检验.
下列情况之一时，应进行型式检验： 本标准规定的要求为型式检验项目，在正常生产情况下，每三个月至少进行一次型式检验.在
a）更新关键生产工艺；b）主要原料有变化；d）与上次型式检验有较大差异； c）停产又恢复生产；e）合同规定.
稀土总量的质量分数、灼减、比表面积为出厂检验项目，应逐批检验.
本标准未规定的试验方法按供需双方协议方法进行试验.
5.2生产企业用相同材料，基本相同的生产条件，连续生产或同一班组生产的纳米二氧化钟为一批，每批产品不超过60t.
