GB/Z 276-2026 光电计算 光脉冲神经元性能测试方法.pdf

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中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

GB/Z 276-2026

光电计算光脉冲神经元性能测试方法

Optoelectronic puting-Performance testing method for photonic spikingneurons

目次

前言1范围2规范性引用文件3术语和定义4神经元控制方式5测试系统5.1概述 5.2技术要求 ....6环境条件7测试方法7.1兴奋性阔值7.2时域累积7.3不应期8测试报告附录A(资料性)测试报告模板

前言

本文件为规范类指导性技术文件.

本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草.

请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任.

本文件由全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG32)提出并归口.

本文件起草单位:西安电子科技大学、之江实验室、北京航天计量测试技术研究所、华中科技大学、杭州爱杰光电科技有限公司、上海曦智科技股份有限公司、联合微电子中心有限责任公司、西南交通大学、苏州大学、电子科技大学、甬江实验室、南通奇波科技有限公司、中移(苏州)软件技术有限公司.

本文件主要起草人:项水英、张萌、虞绍良、张雅慧、李振廷、冯宇祥、郭星星、王忠新、董建绩、周治平、于山山、李强、张力月、李念强、江宁、施跃春、田野、张强、黄于、方英俊、杨毅、郭良帅.

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