T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法.pdf

杆,芯片,其他规范
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ICS31.080 CCS L40/49 CASA 第三代半导体产业技术创新战略联盟 China advanced semiconductor industry innovation alliance 团 体 标 准 T/CASAS 030—2023 GaN毫米波前端芯片测试方法 Measurement methods on GaN mil l imeter Wave front-end MMIC 版本:V01.00 2023-06-30发布 2023-07-01实施 第三代半导体产业技术创新战略联盟发布 T/CASAS030—2023 目次 前言. Ⅲ 引言 .IV 1范围. .1 2规范性引用文件 3术语和定义 4符号. 2 5一般要求. 2 5.1通则. .2 5.2测试环境要求 .3 5.3测试工具/仪表要求 3 5.4测试输入条件要求 3 6测试方法 4 6.1接收/发射小信号增益、输入输出端口电压驻波比、静态电流测试 4 6.1.1目的 444 4 6.1.2测试框图 6.1.3测试程序 4 6.2接收/发射通道1dB压缩点输出功率、发射通道动态电流测试5 6.2.1测试目的 6.2.2测试框图 .5 6.2.3测试程序 5 6.3接收噪声系数测试 5 6.3.1测试目的. .5 6.3.2测试框图 5 6.3.3测试程序 6 6.4开关时间测试 6.4.1测试目的. 4 6 6.4.2测试框图6 6.4.3测试程序 参考文献 I ...

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