中华人民共和国国家标准
GB/T2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007代替GB/T2423.1-2001
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温
Environmental testing for electric and electronic products-Part 2:Testmethods-TestsA:Cold
（IEC 60068-2-1:2007 EnvironmentalTestingPart 2-1:TestsTestA:Cold，IDT)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 发布
目 次
前言1范围2规范性引用文件3术语和定义 4非散热试验样品与散热试验样品试验方法应用对比5试验描述6试验程序8试验报告中应给出的信息 7相关规范应给出的信息附录NA（资料性附录）GB/T2423标准的组成部分附录NB（资料性附录）试验A：低湿和试验B：高温的分类代号小写字母之间的关系 11
前言
GB/T2423.1是GB/T2423标准的第1部分.GB/T2423标准的组成部分见资料性附录NA.本部分与1EC60068-2-1：2007相比，主要做了下列编辑性修改：
本部分的名称改为：《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温》；
一“本标准”一词改为”本部分”；-删除了IEC60068-2-1:2007前言；-删除了IEC60068-2-1：2007引言，将其内容转化为增加的资料性附录NB的内容；-增加了资料性附录“GB/T2423标准的组成部分”（见附录NA）；一增加了资料性附录“试验A：低温和试验B：高温的分类代号小写字母之间的关系”（见附录 NB) ;“一删除了第1章第1段中的“对于非散热试验样品.”：-第1章中最后两段的内容移到4.1中；一6.2最后一段原文为正文，本部分改为注.
为清断起见，上述修改已在正文相应位置加了脚注.
与之相比，主要变化如下：
-删除了试验Aa：非散热试验样品温度突变的低温试验；
删除了附录A、附录B、附录C、附录D、附录E；
本部分由广州电器科学研究院负资起草.
本部分主要起草人：张志勇.
本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
GB/T 2423. 11981 GB/T 2423. 1-1989 GB/T 2423 1-2001.
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温
1范围
GB/T2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品，试验Ab和试验Ad与早期版本无实质性的差异，增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备.
本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力.
况下，应采用GB/T2423.22. 本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力、在这种情
本低配试验方法细分为以下几种：
非散热试验样品低温试验：
试验Ab，温度渐变.
--散热试验样品低温试验：
试验Ad，温度渐变：
试验Ac.温度渐变，试验样品在整个试验过程通电.
本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品.
2规范性引用文件
件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，数励根据本部分达成 下列文件中的条款通过GB/T2423的本部分的引用而成为本部分的条款.凡是注日期的引用文协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分.
GB/T2421电工电子产品环境试验第1部分：总则（GB/T2421-1999，idtIEC60068-1:1988）GB/T2422电工电子产品环境试验术语（GB/T2422-1995，cqvIEC60068-5-2：1990)
GB/T2423.22电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化（GB/T2423.22-2002.1EC 60068-2-14 : 1984 IDT)
GB/T2424.1电工电子产品环境试验高温低温试验导则（GB/T2424.12005，IEC60068-3-1:1974 IDT)
GB/T2424.5电工电子产品环境试验温度试验箱性能确认（GB/T2424.5-2006，IEC60068-3-5:2001.IDT)
(GB/T 2424.7-2006 1EC 60068-3-7:2001.IDT)
IEC60721（部分）环境条件分级
3术语和定义
GB/T2422确立的以及下列术语和定义适用于本部分.
3. 1
工作空间低气流速度low air velocity in the working space
指工作空间的调节气流速度，能维持设定的条件，但也足够低，以致试验样品上任意点的温度不会由于空气循环的影响而降低5K以上（如果可能，不大于0.5m/s）.
3.2
工作空间离气流速度high air velocity in the working space
指工作空间的调节气流速度，为了维持设定的条件，同时使得试验样品上任意点的温度由于空气环的影响面降低5K以上.
4.1总则
温度试验箱的制造和确认按照GH/T2424.5和GB/T2424.7的规定进行.2
高温和低温试验导则见GB/T2424.1，总则见GB/T2421.
只有在以下情况下，才认为试验样品是散热的：当温度达到稳定时（见GB/T2421中相应内容）、在自由空气的条件下（例如，低气流速度循环）测量的试验样品表面最热点的温度超过试验样品周围空气温度5K以上.当相关规范要求进行贮存或运输试验，或未指定在试验期间施加负载，低温试验Ab是适用的.
4.2工作空间是高气流速度或是低气流速度的确定
在测量和试验的标准环境条件下（见GB/T2421），以及气流速度<0.2m/s.按照待试验的低温条件下的规定给试验样品通电或加电气负载. 当试验样品的温度达到稳定，应使用合适的监测装置测量试验样品上或其周围若干个有代表性的位置的湿度，之后，每一个位置的温升应予以记录. 开启试验箱的通风装置使空气循环，当温度达到稳定时，重新测量上述位置处的温度.如果此次测得的温度与上次无空气流动时测得的温度相差超过5K（或相关规范规定的其使值），应在检测报告中记录这些温度值，并且认为该试验箱具有高气流速度循环，然后给试验样品断电，并去掉任何负载条件. 4.3非散热试验样品的试验 在温度渐变试验Ab中，试验样品放人处于试验室温度的试验箱中然后慢慢降低试验箱中温度，防止由于温度改变面对试验样品产生有害作用，建议采用高气流速度循环，因为这样可以减少达到温度稳定所需要的时间， 4.4散热试验样品的试验 部发热点在其内部扩展的情况.类似于安装后的产品在应用中发生的情况. 试验Ad和试验Ae描述了散热试验样品在低气流速度循环下的试验程序，这允许试验样品的局 4.5温度监控 应使用温度传感器来测量试验箱里的空气温度，温度传感器的位置离试验样品的距离应确保其受热扩散的影响可忽略不计，应适当注盘以避免热辐射影响这些测量，更多信息见GB/T2424.5. 4.6包装 对于贮存和运输试验，设备可以带包装进行试验.然而，由于本部分规定的低温试验是稳态试验，设备最终将稳定在试验籍温度，所以，应去掉包装进行试验，除非相关规范要求带包装，或者发热元件是
