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GB/T 48341-2026 深紫外LED封装 加速寿命试验与寿命评估方法.pdf

寿命,标准化,测试环境,温度,资料性,推荐性国家标准
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中华人民共和国国家标准

GB/T48341-2026

深紫外LED封装 加速寿命试验与 寿命评估方法

Deep-ultraviolet LED packages-Accelerated life testing andlifetime evaluation methods

国家标准化管理委员会 国家市场监督管理总局 发布

目

前言引言 V1范围2规范性引用文件3术语和定义4试验的一般要求4.1概述 34.2测试环境条件4.3仪器设备要求 4.4辐射通量测试要求 35确定加速寿命试验的加速应力 35.1抽样 35.2加速寿命试验类型5.3确定加速应力区间6试验程序及数据采集6.1抽样 56.2失效判据 -.56.3稳定性判定6.4参数测试 -*56.5数据采集7辐射通量维持率寿命的推算方法 7.1一般说明 *67.2指数拟合函数 67.3威布尔分布寿命模型8加速寿命试验的寿命外推8.1一般说明 .88.2温度加速寿命试验数据的寿命外推8.3电流加速寿命试验数据的寿命外推8.4温度电流、温度湿度复合应力加速寿命试验数据的寿命外推 -109样品参数采集表 109.1寿命试验基本参数表 109.2寿命试验数据采集表 11

10寿命评估报告表 -11附录A(资料性)深紫外LED封装加速寿命试验与寿命评估流程 13附录B(资料性)典型样品寿命试验 14B.1常规应力寿命试验. 14B.2电流应力加速寿命试验 14B.3温度应力加速寿命试验 15B.4温度电流复合应力加速寿命试验 16参考文献. B.5温度湿度复合应力加速寿命试验 17

前言

本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草.

请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任.

本文件由中国轻工业联合会提出.

本文件由全国照明电器标准化技术委员会(SAC/TC224)归口.

本文件起草单位:山西中科淄安紫外光电科技有限公司、中国科学院半导体研究所、中北大学、北京工业大学、中关村半导体照明工程研发及产业联盟、北京电光源检测认证有限公司、厦门光莆电子股份有限公司、中关村半导体照明联合创新重点实验室、广东省东莞市质量监督检测中心、鸿利智汇集团股份有限公司、北京电光源研究限公司.

本文件主要起草人:孙雪娇、刘乃鑫、李晋闽、梁庭、郭伟玲、宫明峰、王军喜、闫建昌、阮军、陈轩、王清娜、李本亮、李丰超、魏学成,吕天刚、邓锡康、郭亚楠、雷程、徐圆圆、郭凯、刘梓元、许世泽、张童、孙昕、郝建群、余楚成.

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