中华人民共和国国家标准
GB/T 48178-2026
集成电路电子设计自动化工具测试方法
Testing method for integrated circuit electronic design automation tools
国家标准化管理委员会 国家市场监督管理总局 发布
目次
前言1范图2规范性引用文件3术语和定义4缩略语5测试要求5.1通用性测试要求5.3模拟电路和光电电路 5.2 工艺模型5.4数字逻辑设计与验证5.5物理实现5.6晶圆制造5.7封装 •256测试方法 266.1测试流程 266.2测试框架 266.3测试关键要素参考文献
前言
本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草.
请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任.
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出.
本文件由全国集成电路标准化技术委员会（SAC/TC599）归口.
本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、北京科技大学、上海电子设计自动化发展促进会、深圳市海思半导体有限公司、华芯巨数（杭州）微电子有限公司、上海概伦电子股份有限公司、上海立芯软件科技有限公司、芯华章科技股份有限公司、宁波大学、上海合见工业软件集团股份有限公司、杭州 芯晓电子科技有限公司、上海合昕工业软件有限公司、深圳日观芯设自动化有限公司，上海启芯领航半导体有限公司、芯和半导体（上海）股份有限公司、上海思尔芯技术股份有限公司、上海逍遥光电科技有限公司、全芯智造技术股份有限公司、杭州广立微电子股份有限公司，东方晶源微电子科技（北京）股份诚科技有限公司、国能数智科技开发（北京）有限公司杭州行芯科技有限公司、北京航空航天大学、 有限公司、北京华大九天科技股份有限公司、浙江大学滨江研究院、奇捷科技（深圳）有限公司，青岛展北京汤谷软件技术有限公司.
本文件主要起草人：郭楠、刘舒宁、姚海龙，郑云升、张曼，董哲、黄铮、钟乐，王金铭、乔萨鹏、陈鹅、储著飞、孙晓阳、谢卓、冯晓龙、林逸舟、高绪禹、王磊、蒙玉宝、沈文正、陈昇祐、孟晓东、朱亮、赵永林、潘钧儒、施伟杰、邹兰榕、陈粥梅、魏星、孙延辉、张凯、赵小磊、成元庆、刘丹.
