ICS31-330 L90 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T3228.4—2016 代替SJ3228.4—1989 电子产品用高纯石英砂第4部分：二氧化 硅的测定 High purity arenaceous quartz for used in electronics part 4 determining the content of silicon dioxide 2016-01-15发布 2016-06-01实施 SJ 中华人民共和国工业和信息化部发布 2016 SJ/T3228.4—2016 前言 SJ/T3228系列标准计划分下列部分： —SJ/T3228.1电子产品用高纯石英砂第1部分技术条件； —SJ/T3228.2电子产品用高纯石英砂第2部分分析方法通则： —SJ/T3228.3电子产品用高纯石英砂第3部分灼烧失量的测定： —SJ/T3228.4电子产品用高纯石英砂第4部分二氧化硅的测定： —SJ/T3228.5电子产品用高纯石英砂第5部分铁的测定 —SJ/T3228.6电子产品用高纯有英砂第6部分 中 —SJ/T3228.7电子产 产用高纯石英砂第7部分铬的测 HE SJ/T3228.8电 品用高纯石英砂第8部分铝的测定： —SJ/T3228.10电子产品用高纯石英砂第10部分铅的测定 MATION 本部分为第4部分. 本部分按照GBT1.一2089给出的规则起草. 请注意本文作的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机不承担识别这些利的责任. 本部分标准代替S32284一1989. 本部分与6J3228.4一1989相比，主要技术内容变化如下： ——增加了收器与设备、试验环境、精密度、报： ——分析步中增加了空白实验： CHNOL 一修改了氧化硅含量计算公式 本部分由全国体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并 本部分起草单位业和信息化部电子工业标准化研究院、国家硅材料深工产品质量监督检验中 心、东海县产品质量换验所. 本部分主要起草人：李运强、栾振祥、程尚栩、许振午、薄雷明、李建德、管琪、冯亚彬. 本部分所代替标准的历次版本发布情况为： —SJ3228.4-1989 TANDARD I SJ/T3228.4—2016 电子产品用高纯石英砂第4部分：二氧化硅的测定 1范围 本部分规定了高纯石英砂中二氧化硅含量的测定方法. 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不凡基量用文件，仅注日期的版本适用于本文件. 凡是不注日期的引用文件其最新版本（包括时 GB/T6682分析实验室用水规格和试验方法 3方法原理 TION 试样用超纯水、硫酸和氢酸处理后加热，使二氧化硅以四氯化硅的形式 军发出的量即为二 氧化硅的含量 4试剂和材料 CHNO 测试包括如不试剂与材料 a)超纯水：D阻率≥18M2cm 同时符...
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