TJF 中华人民共和国国家计量技术规范 JJF1760—2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范 Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity 2019-09-27发布 2020-03-27实施 国家市场监督管理总局发布 JJF1760-2019 硅单晶电阻率标准样片 校准规范 JJF1760—2019 代替JJG48一2004 Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity 归口单位：全国无线电计量技术委员会 主要起草单位：中国计量科学研究院 参加起草单位：福建省计量科学研究院 本规范委托全国无线电计量技术委员会负责解释 JJF1760-2019 本规范主要起草人： 高英（中国计量科学研究院） 李兰兰（中国计量科学研究院） 参加起草人： 罗海燕（福建省计量科学研究院） 杨爱军（福建省计量科学研究院） ...
JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范.pdf
