ICS31.200 L56 备案号: SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11479—2014 IP文档结构指南 IP documentation guide 2014-10-14发布 2015-04-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T11479—2014 目次 前言 IV 1范围 1 2术语和定义 3说明 2 4数字软P核文档结构 2 4.1P核简介 4.1.1通则. 4.1.2 概述 STRY AN 4.1.3特征列表 FORMATION 2 2 2 2 4.1.4 功能框图 3 4.1.5 端信 3 4.1.6 产品信息 3 4.1.7 暖 4 4.2功能靓范 4 4.2.1 通则 4.2.2 简介 ECHNOL 4 4 4.2.3 端口 SJ 5 4.2.4寄存 90 5 4.2.5功能描 6 4.2.6抽象模型 6 4.3设计手册 7 4.3.1通则 4.3.2 简介 4.3.3 体系结构 STANDARDS 7 7 4.3.4 设计方法和工具流程 4.3.5 时钟和复位策略 10 4.3.6补充说明 10 4.4功能验证文档 10 4.4.1通则 10 4.4.2 简介 10 4.4.3 验证点分析 11 4.4.4 验证平台架构 11 4.4.5 驱动器和监控器 12 4.4.6 模型描述 13 4.4.7 激励 13 4.4.8 模拟脚本 13 I SJ/T11479—2014 4.49盖率14 4.5测试手册 .15 4.5.1通则 15 4.5.2简介 4.5.3测试包封 15 4.5.4测试模型 .16 4.5.5 集成测试 ...16 4.5.6测试图形 .16 4.5.7P核的可测性设计 .16 4.5.8 测试脚本 .16 4.5.9 扫描锁存器列表 17 4.6应用手册 17 4.6.1通则 17 4.6.2 简介 17 4.6.3交付项信息 18 4.6.4 验证环境 21 4.6.5 综合 22 4.6.6 系统集成 23 4.6.7其它问题 25 5数字硬P核文档结构 26 5.1P核简介 26 5.1.1通则 26 5.1.2概述 26 5.1.3特征列表 26 5.1.4功能框图 27 5.1.5端口信号 27 5.1.6产品信息 27 5.1.7联系方式 27 5.2功能规范. 28 5.2.1通则 28 5.2.2简介 28 5.2.3 端口描述 28 5.2.4寄存器描述 29 5.2.5功能描述 30 5.2.6电学特性 30 5.3设计手册 30 5.3.1通则 30 5.3.2简介 31 5.3.3 体系结构 31 5.3.4 设计方法和工具流程 33 5.3.5 其它设计描述 33 5.3.6 补充说明 34 II ...
推荐内容/By 规范库
-
SJ/T 2658.6-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率.pdf
-
SJ/T 11561-2015 软件构件运行环境规范.pdf
-
SJ/T 1480-2016 半导体分立器件 3CG130型硅PNP高频小功率晶体管详细规范.pdf
-
SJ/T 11712-2018 智能电视语音识别测试方法.pdf
-
SJ/T 11714-2018 扬声器线阵列用声波导主要性能测试方法.pdf
-
SJ/T 11694.1-2017 交互式电子白板技术规范 第1部分:红外交互式电子白板.pdf
-
SJ/T 99-2016 变压器和扼流圈用铁心片及铁心叠厚系列.pdf
-
SJ/T 1486-2016 半导体分立器件 3CG180型硅PNP高频高反压小功率晶体管详细规范.pdf
-
SJ/T 11591.4.2.1-2016 立体显示器件 第4-2-1部分:自由立体显示器件测量方法-光学和光电.pdf