H82 ICS 29.045
GB 中华人民共和国国家标准 GB/T32651-2016
采用高质量分辨率辉光放电 质谱法测量太阳能级硅中 痕量元素的测试方法 Testmethod for measuring trace elements in photovoltaic-grade
2016-04-25发布2016-11-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布 中国国家标准化管理委员会
GB/T32651-2016
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。
本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)归口。
本标准主要起草单位：国家太阳能光伏产品质量监督检验中心(无锡市产品质量监督检验中心)、江 苏中能硅业科技发展有限公司、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江西赛维LDK太阳能高科 技有限公司、中国电子技术标准化研究院。
本标准主要起草人：何莉、吴建国、王琴、周滢、刘晓霞、鲁文锋、陈进、封丽娟、李建德、黄雪雯、 孙绍武、冯亚彬、裴会川。
GB/T 32651-2016
采用高质量分辨率辉光放电 质谱法测量太阳能级硅中 痕量元素的测试方法
1范围 本标准规定了采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的方法。
本标准适用于太阳能级硅材料中痕量元素的测定，其中铁(Fe)、铬(Cr)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、 硼(B)、磷(P)、钙(Ca)、钠(Na)、镁(Mg)、铝(AI)、砷(As)、杭(Sc)、钛(Ti)、钒（V)、锰(Mn)、钴(Co）、 (Ga)等元素的测定范围为5μg/kg～50mg/kg。
本方法适用于分析多种物理形态的以及添加任何种类 和浓度掺杂剂的硅材料，例如多晶硅粉末、颗粒、块、锭、片和单晶硅棒、块、片等。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括的修改单)适用于本文件。
GB/T4842氩 GB/T6682一2008分析实验室用水规格和试验方法
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1 高质量分辨率high mass resolution 大于3500的质量分辨率。
3.2
特性满足生产晶体硅太阳能电池要求的硅固体材料。
3.3 标准样品referencematerial 具有一种或多种足够均匀且稳定规定特性的材料，已被确定其符合测量过程的预期用途。
3.4 试样specimen 从标准样品或测试样品上切割下来的，尺寸大小适合装载到高分辨率辉光放电质谱仪离子源中进 行分析的测试对象。
GB/T32651-2016
4方法原理 将试样安装到辉光放电质谱仪的样品室中做为阴极进行辉光放电，其表面原子被情性气体（例如：
人质谱仪，质谱仪根据质荷比将不同离子分离开，最后由离子检测器进行检测并计数。
在每一待测元素 选择的同位素质量数处以预设的仪器工作参数（例如：扫描点数和积分时间)对相应谱峰积分，所得面积 即为谱峰强度。
进行半定量分析时，控制仪器操作的计算机根据仪器软件中的“典型相对灵敏度因子” 自动计算出各元素的质量分数；进行定量分析时，通过在与被测试样相同的分析条件、离子源结构以及 测试条件下对标准样品进行独立测定获得相对灵敏度因子，应用该相对灵敏度因子计算出各元素的质 量分数。
5试剂和材料 5.1去离子水：符合GB/T6682一2008规定的实验室用二级水。
5.2硝酸：o=1.42g/mL，光谱纯。
5.3氢氟酸：p=1.14g/mL，光谱纯。
5.4异丙醇：o=0.784g/mL～0.786g/mL，光谱纯。
5.5硝酸溶液：1十9。
5.6氢氟酸溶液：1十4。
5.7氩气：符合GB/T4842的要求，并且等离子体工作用氢气的纯度（体积分数）应大于或等于 99.999%，吹扫用氩气的纯度（体积分数）应大于或等于99.99%。
5.8氮气：纯度（体积分数）大于或等于99.99%。
测器线性动态范围内的稳定信号，用于在相同分析中使用不同的离子收集器测量离子流的情况下检定 高分辨率辉光放电质谱仪检测系统的离子计数效率。
5.10质量校正标准样品：已知化学成分的黄铜合金材料，用于对辉光放电质谱仪进行精确质量校正。
5.11硅标准样品：可以量值溯源的均质的纯硅材料或其他硅基材料（例如各种硅化物），用于获得各种 被测元素的高质量分辨率辉光放电质谱法相对灵敏度因子。
5.12控制样品：已知被测元素含量且与试样具有相同的规格和结构...
