ICS31.200 CCS L 56 G 中华人民共和国国家标准 GB/T42744-2023 微波电路 电调衰减器测试方法 Microwave circuit- Measuring methods for electrically controlled attenuator 2023-08-06发布 2024-03-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T42744-2023 目 次 前言 Ⅲ 1范围 1 2规范性引用文件 1 3术语和定义 1 4一般要求 3 4.1测试环境 3 4.2测试仪器 3 4.3注意事项 4 5详细要求 ....4 5.1插入损耗(Lin) 4 5.2带内波动（△L)5 5.3衰减量(A) 5 5.4衰减平坦度（△A)6 5.5衰减范围(Aan) 7 5.6衰减温度稳定性(Am)、衰减温度系数(aA)7 5.7衰减精度(Aau) 5.8幅度一致性（△An) 9 5.9相位一致性（△)10 5.10输入、输出驻波比(VSWRi、:) 10 5.11ndB压缩输入功率(Picadb)11 5.12交调失真（双频）(P /P1) 13 5.13n阶交调点输入功率(IIP)14 5.14附加相移(Phriv) 14 5.15开启时间(ton)、关断时间(to)、上升时间(tive)、下降时间(tal)15 5.16最大承受功率(Pmax) 16 I GB/T42744-2023 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任. 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口. 本文件起草单位：成都亚光电子股份有限公司、安徽明洋电子有限公司、安徽省中智科标准化研究 院有限公司、空军装备部驻成都地区军事代表局、中国电子技术标准化研究院. 本文件主要起草人：隆慧、杨晓瑜、刘影影、陈敏、汤朔、周俊、孟泽、何亚平、范富宏、刘峋、王昊、付江蔚、 侯林. ...
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