中华人民共和国国家标准
GB/T 46567.1-2025
智能计算忆阻器测试方法 第1部分：基础特性
Intelligent puting-Test method for memristor--Part 1:Basic characteristics
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布
目次
前言引言1范围2规范性引用文件3术语和定义4待测器件5测试装置与环境条件5.2测试环境条件 5.1测试装置6测试方法6.1读6.2电预处理6.3增强6.4抑制7测试报告附录A（资料性）测试报告模板 10
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前言
本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草.
本文件是GB/T46567智能计算忆阻器测试方法3的第1部分.GB/T46567已经发布了以下部分：
第1部分：基础特性.
请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任.
本文件由全国智能计算标准化工作组（SAC/SWG32）提出并归口.
有限公司、中国计量大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院微电子研究所、 本文件起草单位：之江实验室、浙江大学、上海复旦微电子集团股份有限公司、中移（杭州）信息技术河北大学、东北师范大学、国防科技大学、中国信息通信研究院、浪潮电子信息产业股份有限公司、华中科技大学、太原理工大学、宁波时识科技有限公司、中国科学院半导体研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、山西太行实验室有限公司、天翼云科技有限公司、浙江大华技术股份有限公司、北京京瀚禹电子工程技术有限公司、北京万界数据科技有限责任公司、超聚变数字技术有限公司、北京云之印科技有限公 司、浙江省物联网产业协会、中国通信工业协会.
本文件主要起草人：时拓、王忠新、刘津畅、何水兵、李磊、刘山佳、王明、钟鑫、施闹、吴逊、许晓欣、闫小兵、王中强、李莹、黄伟、王义楠、张丽静、王斌强、李祎、刘琦、孙文绚、徐海阳、杨彪、张乾、李清江、张九六、张宏巍、杨明、黄旭辉、武晨希、于双铭、孔维生、李鹏飞、黄唯静、王小鹏、黄涛、刘海连、罗联上、陈永样.
