中华人民共和国国家标准
GB/T14032-92
Generalprinciples ofmeasuringmethodsof digital phase-locked loopfor semiconductorintegratedcircuits
国家技术监督局发布
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路数字锁相环 测试方法的基本原理
GB/T 14032-92
General principles of measuring methodsof digital phase-locked loop forsemiconductor integrated circuits
理. 本标准规定了半导体集成电路数字锁相环（以下简称器件或数字锁相环）电参数测试方法的基本原
数字锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3834（半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》.
1总要求
1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度编离规定值的范围应符合器件详细规范的规定.1.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定.1.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件. 规定.1.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源.1.6测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络.1.7若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短.1.8测试期间应避免因静电感应面引起器件失效.
2参数测试
2.1动态功耗P.2.1.1目的2.1.2测试原理图 测试器件动态工作时的功率.P.测试原理图见图1.
图1
2.1.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定.
a.环境温度；b.压控振荡器输入电压；c. 定额网络的电阻和电容：6- 压控报荡器输出频率.
2.1.4测试程序
2.1.4.1将被洲器件接入测试系统中.
2.1.4-2接通电源.
2.1.4.3调节直流信号源的输出电压，使压控探荡器输入电压V：为电源电压V.的
2.1.4.4调节定额网络中的电容，使压控振荡器输出频率为规范值.
2.1.4.5在电源端读取电流1.的平均值，
2.1.4.6按式（1）计算P：
（1）
2.2压控振荡器最高工作频率fm
2.2.1目的
测试压控振茜器输人电压为最大值时的输出频率.
2.2.2测试原理图f测试原理图见图2.
图2
2.2.3测试条件
a. 环境温度：b. 压控振荡器输入电压； 电源电压；d.定频网络的电阻和电容； c.压控振荡器输出端电平和波形，
2.2.4测试程序
2.2.4.1将被测器件接入测试系统中.
2.3压控振荡器输出额率温度系数a
a测试原理图见图3.
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定.
2.2.4.4读取压控振荡器输出端频率即为压控振荡器最高工作频率fmx.
图3
2.3.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定.
n.环境温度；b.电源电压：c.压控振荡器输入电压；d.定频网络的电阻和电容.
2.3.4测试温度
2.3.4.1将被测器件接入测试系统中.
2-3.4-2接通电源.
2.3.4.3调节压控振荡器的直流输入电压V为V的
2.3.4.4将器件置于规定的环境温度T，下，读取压控振荡器的输出频率f.
2.3.4.5将器件置于规定的环境温度T下，读取压控振荡器的输出频率f.
2.3.4.6按式（2）计算a
（2）
2.4压控振荡器线性误差E
2.4.1目的
测试压控振荡器传输特性曲线对于其最佳拟合直线的最大偏差.
2.4.2测试原理图
E渊试原理图见图4.
