中华人民共和国国家标准
GB/T 17722-1999
Gold-plated thickness measurement by SEM
国家质量技术监督局发布
中华人民共和国国家标准金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 GB/T 17722-1999北京西城区复兴门外三里河北街16号 出版发行邮政编码：100045http : / bzcbs 1999年7月第一版2004年11月电子版制作 电话：、63787447书号：155066 •1-15975
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前言
目前市场出售的黄金制品名目繁多，常见的有镀金、包金、锻压金以及各种表层镀有黄金与白银的金属的镀层，面且用上述方法制成的饰品或工艺品种类十分繁多，面对如此紫多的饰品和工艺品的质量 混合镀层的金制品，此外，一些K金饰品也在外面镀覆纯金或K金，一些白金饰品的表面覆盖有各种贵监测是一个极大的问题.
本方法提出的对金覆盖层厚度的直接测量方法，用扫描电镜从金饰品的断面上直接测定其覆盖层的成分、覆盖层的层数和各层的厚度等，对于评价上述各类金制品的质量将具有十分重要的意义.
本标准的附录A是提示的附录.
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口.
系、上海市测试技术研究院、中船总725所.
本标准主要起草人：陆亚伟、周剑雄、柳得稽、张训、徐国照.
中华人民共和国国家标准
GB/T 17722-1999
金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
Gold-plated thickness measurement by SEM
1范围
本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求，本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度，适用的厚度测量范围为0.2~10μm.
其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行.
2引用标准
下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文，本标准出版时，所示版本均为有效.标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨、使用下列标准最新版本的可能性.
GB/T13298-1991金属显微组织检测方法 GB/T12334-1990金属及其他无机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则GB/T15616-1991金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法GB/T16594-1996微米级长度的扫描电镜测量方法GB/T17362-1998黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法GB/T17363-1998黄金制品的电子探针测定方法
3术语
局部厚度在基本测量面内对某一部位测定的厚度值.注：基本测量面定义见GB/T 12334-1990. 平均厚度在基本测量面内不同部位选择规定数量的局部厚度测量值的算术平均值.
4原理
本标准方法是先将被测金覆盖层样品的外面加金属保护层后，在垂直覆盖层方向切成薄片，经过镶嵌、研磨、抛光后制成试样，利用扫描电镜观察二次电子像和背散射电子像直接测定覆盖层层数和金覆 盖层的平均厚度.
5标准器和仪器设备
5.2微米级长度标准器：经法定计量机构标定，最小刻度标称值应小于2pm. 5.1扫描电镜：二次电子像分辨力优于10nm，背散射电子像分辨力优于20nm.5.3比长仪：量程不小于60mm，误差不超过士5pcm.5.4金相显微镜.5.5超声波清洗器.5.6线切割机或低速金刚砂锯片.
