GB/T 24177-2009 双重晶粒度表征与测定方法.pdf

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中华人民共和国国家标准

GB/T24177-2009

双重晶粒度表征与测定方法

Standard test methods for characterizing duplex grain sizes

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 发布

前言

本标准等同采用ASTME1181-02《表征双重晶粒度的标准测定方法)(英文版),为了便于使用,本标准对ASTME1181-02作了下列编辑性修改:a)删除了ASTME1181-02的前言:b)采用相应或相近的国家标准代替ASTM标准: c)双重品粒度报告格式中的具体数据采用附录A的数据:d)根据GB/T1.1-2000要求,调整了原标准中部分章节、条目的设置.本标准与ASTME1181-02相比主要变化如下:a)删除了ASTM E1181-02的1.2; b)增设1.2"本试验方法仅作为推荐试验方法,不对材料验收测试的合格级别范围进行规定”;c)删除对ASTM附件“测定面积分数的比较图谱”(ASTM附件号:ADJE1181)的引用;d)删除了ASTME1181-02的“关键词“部分:e)增加了附录NA(本标准与ASTME1181-02的差异及其原因》.本标准的附录A为规范性附录,附录B和附录NA为资料性附录本标准由全国销标准化技术委员会归口. 本标准由中国钢铁工业协会提出,本标准起草单位:宝山钢铁股份有限公司、冶金工业信息标准研究院、东北特殊钢集团有限责任公司,本标准主要起草人:谢崇津、栾燕、曾文涛、顾艳、孙时秋、刘振茂.

引言

对于晶粒尺寸符合单--对数正态分布的产品,已经建立了测定其平均晶粒度(采用GB/T6394)和最大品粒度[采用ASTME930-99(2007)的试验方法,而本标准适用于产品中品粒尺寸呈其他形态分布的晶粒度的评定.

晶粒度,然而使用本术语并不意味着仅存在两种晶粒度的分布. 由于习惯用法和被人们熟知,选用术语“双重品粒度(duplexgrain sizc)“来表述任何呈其他分布的

本标准用于描述不同于单一-对数正态分布的品粒度的特征,并以合理的精度描述实际存在的品粒度分布.

双重晶粒度表征与测定方法

1范围

1.1本标准规定了判别双重品粒度的方法.本标准将双重品粒度分为两大类共六种类型,并分别描述了各类型的特征,提供了相应的表征方法及报告格式.1.2本标准仅作为推荐性试验方法,不对材料验收测试的合格级别范围进行规定.

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款.凡是注日期的引用文件,其随后的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然面,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本,凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准,

GB/T13298金属显微组织检验方法 GB/T6394金属平均晶粒度测定方法(GB/T6394-2002,ASTME112:1996,MOD)GB/T15749定量金相手工测定方法ASTME7金相学相关术语ASTME930-99(2007)金相检测面上最大晶粒尺寸级别(ALA晶粒度)测定方法

3术语和定义

ASTME7中确立的以及下列术语和定义适用于本标准.

3. 1带状或条带状组织bands or banding品粒度差异较大的交替区域,这些区城沿看加工方向廷伸.

3.2晶粒度grain size等效于晶粒尺寸分布的平均值.

3. 3一些孤立的粗品粒被明显较细的品粒群环绕着的组织. 项链状组织necklace ornecklace structure

3. 4拓扑变化topologicallyvarying以某种可确定的样式出现的非随机变化,该样式可能与受检试样或产品的形状相关.

4双重品粒度分类与特征

双重晶粒度分为随机双重晶粒度与拓扑双重晶粒度两大类,每大类又各分为三种类型.

4.1随机双重晶粒度random duplexgrain size

态和双峰状态. 包含两种或多种尺寸明显不同,以随机变化形式分布的晶粒.其分布状态有:ALA状态,宽级差

随机分布的孤立粗大品粒与基体品粒的平均晶粒度级差不小于3级,且这些孤立租大晶粒所占试样面积的百分数不大于5%.如其所占面积百分数大于5%,则按双峰状态处理,

GB/T 24177-2009

图A.1给出了ALA状态的显微照片实例、

4.1.2宽级差状态wide-rangecondition

随机分布的晶粒度出现异需宽的级益,其最大晶粒与最小品粒的品粒度级差不小于5级.

图A.2给出了宽级差状态的显微照片实例,

4.1.3双峰状态bimodal condition

5%、并且这两种品粒所占面积分数之和大于试样总面积的75%. 随机分布的两种尺寸明显不同的品粒,两者的品粒度级差超过4级,每种品粒所占面积分数均大于

图A.3给出了双峰状态的显微照片实例.图B.1给出了另--个实例,

4.2拓扑双重晶粒度topological duplex grain size包含两种或多种尺寸明显不同,以拓扑变化形式分布的品粒,其分布状态有:截面状态、项链状态和条带状态.

4.2.1截面状态cross-sectioncondition

品粒度在产品整个截面上呈现规则的变化,以致不同区域间的平均晶粒度级差不小于3级:或者在产品截面的特定区域存在不同的品粒度(例如,在临界应变区城的异常品粒长大导致的租大品粒),以致这些特定区域的品粒度与大部分截面的晶粒度级差不小于3级.

图A.4给出了截面状态的显微照片实例.

4.2.2项链状态necklace condition

一些孤立的粗品粒被明显较细的晶粒群所环绕,这些粗大晶粒和较细品粒的品粒度级差不小于3级:

图A.5给出了取链状态的显微照片实例.

4.2.3条带状态bandingcondition

品粒度差异较大的条带交替区城,其晶粒度级差不小于3级.

图A.6给出了条带状态的显微照片实例.

5意义和用途

5.1某些金属和合金因其热加工过程可能会出现双重晶粒度,为了比较各种状态品粒度对力学性能的影响,或为了制定技术要求,对这些材料的易粒度特征进行表征可能是重要的,如用一个平均品粒度值表征一个双重品粒度试样并不能充分地表示该试样的晶粒分布形赖特征,甚至可能面曲其形税特征.例如,将网个显然不同的品粒度值进行平均会导致报出在试样中根本不存在的晶粒度.

5.2本标准可用于试样或产品,面不考惠其再结品状态,

5.3本标准描述了与单一对数正态分布的晶粒度的差异及晶粒度的变化特征,所以应评定整个试样面.

5.4本标准仅限于评定单个抛光和浸馈试样中可识别的双重品粒度.如果认为产品中的双重品粒度变化范围太大,不能以单个试样进行抛光并浸蚀时,则应以宏观浸蚀作为测定的第一步,如果有可能,应将整个宏观浸蚀面作为评定不同晶粒度所占面积分数的基础.如果其后需要进行显微检验,则应对 产品整个截面取样进行面积分数和品粒度测定,以代表整个产品截面,

5.5本标准用于表征双重晶粒度.多相组织的品粒尺寸不一定呈双重分布,此时该类晶粒组织不是本标准的研究对象,然面,本标准所述的用面积分数测定的试验方法可用于描述多相品粒组织.

6试样及制备

6.1取样

6.1.1本标准用于表征试样或产品的品粒度变化,为了准确地表征这些变化,应对试样或产品的整个截面进行测定,

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