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GB/T 32196-2015 无损检测仪器 型号编制方法.pdf

X射线,仪器,型号,标准化,通用型,推荐性国家标准
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中华人民共和国国家标准

GB/T32196-2015

无损检测仪器 型号编制方法

Non-destructive testing instruments-Model designation method

中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布

目 次

前言1范围2产品型号的组成3无损检测仪器分类、型号与命名 3.1概述3.2无损检测仪器分类3.3每小类中组的划分3.5主参数的确定 3.4每组中型的划分附录A(规范性附录)各类产品型号编制规则

前言

本标准按照GB/T1.1-2009给出规则进行起草.本标准由中国机械工业联合会提出. 本标准由全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC122)归口.本标准负责起草单位:辽宁仪表研究所、山东省特种设备检测研究院济宁分院、济宁鲁科监测器材有限公司、爱德森(厦门)电子有限公司.本标准主要起草人:徐波、王延东、马军、林俊明.

无损检测仪器型号编制方法

1范围

本标准规定了无损检测仪器的型号编制方法.

本标准适用于射线检测仪器、超声检测仪器、电磁(涡流)检测仪器、X射线衍射仪器、荧光光谱仪器、声学检测仪器、应力测定仪器和目视检测装置(设备)等八大类无损检测仪器产品(以下简称产品)的型号编制.

2产品型号的组成

产品型号由以下五部分组成:

I一各大类产品中的小产品: Ⅱ一各小类产品中的组:Ⅲ-各组产品中的型;IN-主参数或规定代号或产品序号:V改进序号.

型号中

I用一个大写的汉语拼音字母表示;而金属材料试验机中的硬度计和无损检测仪器中的声学检测仪则用大写英文字头表示.

Ⅱ用一个大写的汉语拼音字母表示;而硬度计、超声探伤仪和声学检测仪则用1~3个大写英文字头表示.

Ⅲ用一个大写的汉语拼音字母表示.

IV表示主参数,一般不超过两项.未确定主参数的产品,用规定代号或统一编排的产品序号表示.

V是在I、ⅡI、Ⅲ、IV不变的前提下,产品结构或性能等有显著改进时使用.第一次改进时用"A",第二次改进时用"B".以产品序号表示主参数时,V也就不存在.

参数较多时,可能增加/"标明为多组参数.

3无损检测仪器分类、型号与命名

3.1概述

仪器的分类、型号与命名应符合附录A中表A.1的规定.

3.2无损检测仪器分类

无损检测仪器按检测方法分为:

a)磁粉探伤机:b)漏磁探伤机;d)X射线荧光光谱仪; c)涡流探伤仪:e)X射线衍射仪;

f)X射线应力测定仪:g)目视检测装置(设备):h)X射线探伤机; i)Y射线探伤机;j)超声探伤仪:k)声学探伤仪.等小类(见表A.1中的I).

3.3每小类中组的划分

3.3.1每小类组的划分应符合表A.1中Ⅱ的规定.3.3.2磁粉探伤机按磁化电流的种类分为:直流、交流、交直流两用、半波整流、全波整流、多种(磁化电流)、旋转磁场等组.3.3.3漏磁探伤机按测漏磁传感器的不同形式分为磁针、磁带、检出线圈、半导体磁性检出子、磁通量 联金口间3.3.4涡流探伤仅按工作原理分为单频涡流检测仪、多频涡流检测仪、阵列涡流检测仪.3.3.5荧光探伤仅分固定式和携带式等组.3.3.7Y射线探伤机分固定式和携带式等组. 3.3.6X探伤机分为移动式(固定式)、携带式、工业数字成像X射线装置和加速器(探伤用)等组.等组.3.3.9声学检测仅分为声发射、声全息、声成像、声阻抗等组.

3.4每组中型的划分

3.4.1每组中型的划分应符合附录A中表A.1中Ⅲ的规定.3.4.2磁粉探伤机分为固定式、移动式和携带式等型.3.4.3漏磁探伤机的半导体磁性检出子组中,按测漏磁方法设有霍尔式、磁敏式、磁阻式等型;检出线3.4.4涡流检测仅中,各线圈不分型. 圈组分两种型.其余各组设善通型.3.4.5荧光探伤仅中的各组产品不分型,3.4.6X射线探伤机按射线方向、绝缘材料、射线管、颜率等特点分型,但数字成像X射线装置分为面阵探测器和线阵探测器,加速器组中分迥转和直线等型.3.4.7射线探伤机中的各组产品按射线源种类分型. 3.4.8超声探伤仅在A型显示组中,根据用途及其特点分通用型和钢轨用、多通道等型:其余各组不分型.3.4.9超声检测仅中的各组产品不分型.3.4.10声学检测仪中的各组产品不分型.

3.5主参数的确定

3.5.1磁粉探伤机以额定周向磁化电流,单位用安培表示,但旋转磁场磁粉探伤机用产品序号表示,3.5.2漏磁探伤机以产品序号表示.3.5.3涡流探伤仅以产品序号表示. 3.5.4荧光探伤仅以灯管功率瓦特表示.3.5.5X射线探伤机中,移动式(固定式)、携带式、工业数字成像X射线装置组等组的主参数,均用额2

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