中华人民共和国国家标准
GB/T19436.2-2025/IEC61496-2:2020代替GB/T19436.2-2013
机械电气安全电敏保护设备 第2部分：使用有源光电保护装置 （AOPDs）设备的特殊要求
Electrical safety of machinery-Electro-sensitive protective equipmentPart 2: Particular requirements for equipment using active opto-electronicprotectivedevices(AOPDs)
[IEC 61496-2 :2020 Safety of machinery-Electro-sensitive protectiveequipment-Part 2:Particular requirements for equipment using activeopto-electronicprotectivedevices(AOPDs) IDT]
国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会
目次
前言引言范围2 规范性引用文件3 术语和定义4功能、设计和环境要求4.1 功能要求4.2 设计要求试验 6通则5.1 65.2 功能试验 85.4 环境试验. 246识别标志和安全使用标志 296.1总则. 297随机文件.. 29附录A（规范性） ESPE的选择性功能 31A.1 总则 31A.10 消隐 31A.11 降低分辨率 31A.12 预定义消隐或降低分辨率配置的选择 32附录AA（资料性）2型AOPD周期检测配置 34AA.1外部发起和评估的周期检测34AA.2内部发起和评估的周期检测. 35参考文献 36
图1防止光旁路风险的限制区域图2垂直和水平错位的限制图3试件45° 9试件90°图4 6图5 在发射器、接收器/目标回复反射器附近及中点处移动试件通过检测区验证敏感功能 10图6有效孔径角的限值 11图7 最小检测能力的确定 12图8EAA的测量方法（指南）. 12
图9测量每一光束EAA的棱镜试验 14图10 使用棱镜的EAA试验 15图11 光学子系统示例 16图12 SMDLED（表面贴装发光二极管）模型示例 17图13 发射元件的强度分布示例 17图14 光束被孔径光阑内部阻挡的发射器模型示例 18图15 机械元件上内部反射离轴部分光束的接收单元示例18图16 光学子系统模型内部试件传递辐射在接收器上的示例 19图17 调整到极限的发射单元示例 20图18 反射镜超出限制区域的外部反射试验 21图19 AOPD偏离试验. 23图20 光干扰试验 直接式 25图21 光干扰试验 一使用白炽光源的试验设置 25图22 光干扰试验使用荧光光源的试验设置 26图23 光干扰试验 使用闪烁光源的试验设置 27图AA.1 单光束敏感装置 34图AA.2 单光束敏感装置的串联 34图AA.3 多光束敏感装置的单独检测 35图AA.4 带有内部检测的2型AOPD示例35
表1要求/试验与AOPD设计的对应关系表2取决于光幕尺寸的2型ESPE的最大允许偏离角（度) 21表3取决于光幕尺寸的3型ESPE的最大允许偏离角（度） 22表4取决于光幕尺寸的4型ESPE的最大允许偏离角（度） 22
前言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草.
本文件是GB（/T）19436《机械电气安全电敏保护设备》的第2部分.GB（/T）19436已经发布了以下部分：
-一机械电气安全电敏保护设备第1部分：一般要求和试验（GB/T19436.1)；一机械电气安全电敏保护设备第2部分：使用有源光电保护装置（AOPDs)设备的特殊要求(GB/T 19436.2);-一机械电气设备电敏保护装置第3部分：使用有源光电漫反射防护器件（AOPDDR)设备的特殊要求(GB/T19436.3)；-一机械电气安全电敏保护设备第4部分：使用视觉保护装置（VBPD)设备的特殊要求(GB/T 19436.4).
装置（AOPDs)设备的特殊要求》，与GB/T19436.2一2013相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：
-一更改了术语“光束装置”的定义（见3.204，2013年版的3.204）；一删除了术语“监控屏蔽”（见2013年版的3.207）；-一增加了术语“几何受限的光学设计”（见3.207）；更改了“功能要求”中“敏感功能”“总则”中若干技术要求（见4.1.2.1，2013年版的4.1.2.1)；删除了“光学性能”（见2013年版的4.1.2.2）；补充要求”（见2013年版的4.1.2.3和4.1.2.4)；增加了“对使用回复反射技术的AOPDs和在同一组件中使用混合发射器和接收器的AOPDs的附加要求”（见4.1.2.2）；-一更改了“ESPE的类型”中若干规定（见4.1.3，2013年版的第4章）；一更改了AOPD检测能力保持完整的条件要求以及设计和制造的要求（见4.2.12，2013年版的4.2.12);-一增加了试件对于使用回复反射技术的AOPD和发射器和接收器在同一装置中AOPD的要求（见4.2.13）；一一更改了“辐射强度”中对于发射装置使用不同技术所要满足的要求（见4.2.15，2013年版的4.2.15);5.2.9);一更改了“环境试验”中技术内容，用新的“光干扰"试验替换（见5.4，2013年版的5.4）；
一更改了“随机文件"中若干技术条款，增加了新的技术要求（见第7章，2013年版的第7章)；更改了“ESPE的选择性功能”的条款、技术要求及内容（见附录A，2013年版的附录A)；合性评估”“使用棱镜方法验证有效孔径角”“使用反光镜方法和偏离试验验证光学性能”和“基于完全遮挡的AOPD检测能力”（见2013年版的附录B、附录D、附录E和附录F）.
本文件等同采用IEC61496-2：2020《机械安全电敏保护设备第2部分：使用有源光电保护装置（AOPDs)设备的特殊要求》.
本文件做了下列最小限度的编辑性改动：
-一更改了范围的语序（见第1章)；
更改了部分译文，“element”译文统一译为元件，“assembly”译文统一译为组件，“systematicanalysis"译文统一译为系统性分析，“retro-reflective”译文由反射修订为回复反射，“mirror”译文由镜子修订为反射镜；
一更改了选择性功能“屏蔽”的描述，替换为“消隐”（见附录A）.
本文件由中国机械工业联合会提出.
本文件由全国工业机械电气系统标准化技术委员会(SAC/TC231)归口.
本文件起草单位：国家机床质量监督检验中心、济宁科力光电产业有限责任公司、西安交通大学、山东莱恩光电科技股份有限公司、北京机床研究限公司、中国科学院沈阳计算技术研究限公司、科德数控股份有限公司.
本文件主要起草人：薛瑞娟、吴翟、黄祖广、张颖、邵光存、赵立波、林启敬、卢振伟、张国杰、胡进芳、尹震宇、高知国、张培森、吴怡然、王楚婷、王大伟.
本文件于2004年首次发布，2013年第一次修订，本次为第二次修订.
