中华人民共和国国家标准
GB/T11682-2026代替GB/T11682-2008
低本底α和/或β测量仪
Low background alpha and/or beta measuring instruments
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布
目次
前言1范图2规范性引用文件3术语和定义4技术要求4.1仪器组成及功能外观要求4.2仅器的技术指标 4.3环境适应性4.4电气安全要求.4.5电磁兼容性要求5试验方法5.1参考条件和标准试验条件5.2参考源5.3外观检查5.4单位面积本底计数率试验5.5效率比试验5.6探测效率稳定性试验5.7申道比试验5.8环境适应性试验5.10电磁兼容性试验 5.9电气安全试验6检验规则6.1出厂检验6.2型式检验6.3检验项目.7标志、包装、运输、贮存7.1标志7.2包装.7.3运输7.4贮存8随行文件8.1说明书8.2产品合格证
GB/T 11682-2026
附录A（规范性） 几何因子附录B（资料性）仪器分级参考文献 1U
前言
本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草.
调整和编辑性改动外，主要技术变化如下： 本文件代替GB/T11682-2008《低本底a和/或β测量仪》，与GB/T11682-2008相比，除结构
版的 3.1 3.8 3.10 和 3.12);版的3.16 3.13);）度”低本底.和/或β测量仪”"儿何因子”干扰辐射”探测器窗”（见2008年版的3.2~3.7、3.9 3.11 3.14 和I 3.15) ;一增加了术语“单位面积本底计数率”参考源”（见3.3、3.9）； 更改了“仅器组成及功能外观要求“（见4.1.2008年版的4.1）；删除了“放射源“（见2008年版的4.2）：删除了“仅器的分级要求“（见2008年版的4.3）；增加了“仅器的技术指标"（见4.2）；更改了“环境适应性”（见4.3 2008年版的4.4）； 更改了“电气安全要求“（见4.4.2008年版的4.5）；更改了“电磁兼容性要求”（见4.5 2008年版的4.6）；更改了“参考条件和标准试验条件”（见5.1 2008年版的5.1）：增加了“参考源”（见5.2）：增加了“外观检查”（见5.3）： 更改了“单位面积本底计数率试验（见5.4.2008年版的5.2）：更改了“效率比试验”（见5.5.2008年版的5.3）；更改了“探测效率稳定性试验（见5.6.2008年版的5.4）；更改了“串道比试验“（见5.7.2008年版的5.5）；更改了“环境适应性试验（见5.8 2008年版的5.6）；更改了“电气安全试验”（见5.9.2008年版的5.8）：更改了“电磁兼容性试验”（见5.10.2008年版的5.9）；删除了“运输试验“（见2008年版的5.10）； 更改了“检验规则“（见第6章.2008年版的第6章）：更改了“标志“（见7.1.2008年版的7.1）；更改了“运输“（见7.3.2008年版的7.3）；更改了“贮存“（见7.4.2008年版的7.4）；-更改了规范性附录A°几何因子"（见附录A，2008年版的附录A）. 更改了“随行文件“（见第8章.2008年版的第8章）；请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任.
