M33 ICS 33.180.10
中华人民共和国国家标准
GB/T15972.49-2021代替GB/T15972.49-2008
光纤试验方法规范第49部分： 传输特性的测量方法和试验程序 微分模时延
Specificationsfor opticalfibre testmethods-Part49: Measurement methods and test procedures for transmission characteristics-Differentialmode delay (IEC 60793-1-49:2018,Optical fibres-Part 1-49:Measurement methods and test procedures--Differential mode delay,MOD)
2021-10-11发布2022-05-01实施 国家市场监督管理总局发布 国家标准化管理委员会
GB/T 15972.49-2021
目次
前言 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 4缩略语 5方法概述 6装置3 6.1概述 6.2光源 6.3扫描尾纤 6.4扫描台 6.5扫描尾纤与受试光纤的耦合 6.6包层模剥除 6.7检测系统 6.8采样与数据处理 6.9计算装置 6.10系统性能 7采样与样品 7.1样品...... 7.2样品端面 7.3样品长度 7.4样品放置 7.5样品定位 8程序 8.1光纤耦合和系统设置 8.2光纤光学中心的确定 8.3样品测试 8.4△TpULsE和△TREr的确定. 8.5基准试验方法 9计算和结果说明 9.1概述 9.2微分模时延（DMD）..8 9.3最小计算有效模式带宽（minEMBc) 9.4长度归一化..10 10结果10 10.1需要报告的信息10
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10.2需要时提供的信息11 附录A（规范性附录）光源谱宽限值12 附录B（资料性附录）光纤光学中心的确定15 附录C（规范性附录）检测系统模式的测量17 附录D（资料性附录）测量讨论19 附录E（资料性附录）确定计算EMBc时的DMD权重22 附录F（资料性附录）关于EMBc的计算24 参考文献27
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前言
GB/T15972《光纤试验方法规范》由若干部分组成，其结构如下： -一第10部分：测量方法和试验程序总则； -一第20部分～第29部分：尺寸参数的测量方法和试验程序； -一第30部分～第39部分：机械性能的测量方法和试验程序； -一第40部分～第49部分：传输特性的测量方法和试验程序； -一第50部分～第59部分：环境性能的测量方法和试验程序。
其中GB/T15972.4X由以下部分组成： 第40部分：传输特性的测量方法和试验程序衰减； -一第41部分：传输特性的测量方法和试验程序带宽； 一第42部分：传输特性的测量方法和试验程序波长色散； 一第43部分：传输特性的测量方法和试验程序数值孔径； -一第44部分：传输特性的测量方法和试验程序截止波长； 一第45部分：传输特性的测量方法和试验程序模场直径； -一第46部分：传输特性的测量方法和试验程序透光率变化； 一第47部分：传输特性的测量方法和试验程序宏弯损耗； --第48部分：传输特性的测量方法和试验程序偏振模色散； --第49部分：传输特性的测量方法和试验程序微分模时延。
本部分为GB/T15972的第49部分。
本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T15972.49一2008《光纤试验方法规范第49部分：传输特性和光学特性的测量 方法和试验程序微分模时延》，本部分与GB/T15972.49一2008相比主要技术变化如下： -一增加了部分规范性引用文件（见第2章）； -一增加了微分模时延、象限和25%幅度全宽三个术语（见第3章，2008年版的第3章）； 一增加了缩略语（见第4章）； -增加了可导出的参数minEMBc和OMBc的方法概述（见第5章）； 增加了“脉冲半导体激光器或锁模光纤激光器”作为可满足要求的光源（见6.2，2008年版的 5.1) ; 一删除了高次模滤除章节，将内容调整至扫描尾纤章节（见6.3，2008年版的5.3.3）； -增加了检测系统中模式相关性对EMBc和OMBc的要求（见6.7，2008年版的5.4.1)； 一增加了系统性能要求（见6.10)； 一增加了反卷积和脉冲重叠（见9.2.2，9.2.3）； -一修改了DMD确定的过程（见9.2.4，2008年版的8.1）； 增加了最小计算有效模式带宽的计算和结果说明（见9.3）； 一增加了资料性附录B：光纤光学中心的确定（见附录B)； 一增加了规范性附录C：检...
