L23 ICS 31.220.10
中华人民共和国国家标准
GB/T5095.2503-2021/IEC60512-25-3:2001
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
Electromechanical ponentsfor electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-3:Test 25c:Rise time degradation (IEC 60512-25-3:2001,Connectors for electronic equipment- Tests and measurements-Part 25-3:Test 25c:Rise time degradation,IDT)
2021-03-09发布2021-10-01实施 国家市场监督管理总局发布 国家标准化管理委员会
GB/T 5095.2503-2021/IEC 60512-25-3:2001
目次
前言 1总则 1.1范围和目的 1.2术语和定义 2试验设施 2.1设备 2.2装置 3试验样品 3.1说明 4试验程序 4.1插入法 4.2标准装置法 4.3上升时间衰减计算 5相关标准应规定的细则 6试验记录文件 附录A（规范性附录）装置和设备示意图 附录B（资料性附录）实用指南
GB/T 5095.2503-2021/IEC 60512-25-3:2001
前言
GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。
GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： --第25-1部分：试验25a：串扰比； -一第25-2部分：试验25b：衰减（插人损耗）； 一第25-3部分：试验25c：上升时间衰减； --第25-4部分：试验25d：传输时延； -第25-5部分：试验25e：回波损耗； --第25-6部分：试验25f：眼图和抖动； -一第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)； -第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰。
本部分为GB/T5095的第25-3部分。
本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-3：2001《电子设备用连接器试验和测量第25-3部 分：试验25c：上升时间衰减》。
本部分做了下列编辑性修改：
《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分：试验25c：上升时间衰减》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。
本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。
本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。
GB/T 5095.2503-2021/IEC60512-25-3:2001
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
1总则
1.1范围和目的 GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。
1.2术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。
1.2.1 上升时间衰减rise time degradation 样品插入传输通道时，达到理论上理想的(零上升时间)电压阶跃的上升时间增量（见图1)。
采用 的高斯信号从10%～90%的上升时间衰减的计算式见式(1)： Td=√(T,)²(T） 式中： T.d--上升时间衰减； T，--测量的上升时间； T.m--测量系统上升时间。
1.2.2 测量系统上升时间measurement systemrisetime 安装就位无样品，并具有滤波（或归一化）作用的装置测量的上升时间。
通常，测量的是从10%～90% 电平的上升时间(见图1)。
1.2.3 样品环境阻抗specimen environmentimpedance 由装置在样品信号导线上引起的阻抗。
该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器和信号源以 及装置的寄生效应产生的。
1.2.4 上升时间rise time 发生电压阶跃所需的时间，通常测量的是从10%～90%电平上升时间的初始值和最终值。
2试验设施 2.1设备 脉冲发生器和示波器、时域反射计（TDR)或具有测量系统上升时间小于或等于测量的上升时间 70%的其他...
