SN/T3012-2011
前言
本标准是按照GB/T1.1-2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则 起草。
本标准由中国国家认证认可监督管理委员会提出并归口。
本标准起草单位：中华人民共和国厦门出人境检验检疫局、厦门钨业股份有限公司。
本标准主要起草人：普旭力、董清木、蔡鹭欣、王鸿辉、叶淑爱、魏丽英、王彩云。
本标准系首次发布的检验检疫行业标准。
SN/T3012-2011
钨精矿中三氧化钨含量的测定 X射线荧光光谱法
警告：使用本标准的人员应有正规实验室工作的实践经验。
本标准并未指出可能的安全问题。
使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法律法规规定的条件。
1范围
本标准规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定钨精矿中三氧化钨（WO）含量的测定方法。
本标准适用于钨精矿，也适用于其他钨矿石中WO含量的测定，测定范围（质量分数）：17%～ 70%
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件。
GB/T4414包装钨精矿取样、制样方法 GB/T6379.2测量方法与结果的准确度（正确度和精密度）第2部分：确定标准测量方法重复 性与再现性的基本方法（GB/T6379.2-2004，ISO5275-2：1994，IDT） GB/T6682分析实验室用水规格和试验方法（GB/T6682-2008，ISO3696：1987，MOD） GB/T16597冶金产品分析方法X-射线荧光光谱法通则
3方法提要
以四硼酸钠和四硼酸锂（质量比63：35）的混合物作为熔剂，硝酸锂为氧化剂，溴化锂为脱模剂，在 1200℃下熔融制备试料片，用光谱纯WO配制校准标样，以钨的La和钽的La线荧光发射强度的比 值为纵坐标、WO浓度为横坐标绘制校准曲线，计算出待测元素的含量。
4试剂和材料
除非另有说明外，仅使用认可的分析纯及以上纯度试剂。
水为符合GB/T6682规定的二级水。
4.1混合熔剂[m（NaBO）：m（LiBO）=65：35]（X射线荧光专用试剂）：在550℃下至少灼烧 4h，并置于干燥器中贮存。
4.2溴化锂（LiBr）：在105℃下干燥1h。
4.3溴化锂溶液（400mg/mL）：称取200g士0.001g溴化锂（4.2），溶解于400mL水中，稀释至 500mL. 4.4硝酸锂（LiNO）：在105C下干燥1h。
4.5硝酸锂溶液（220mg/mL）：称取110g士0.001g硝酸锂（4.4），溶解于200mL水中，稀释至 500ml 4.6三氧化钨（WO）：光谱纯在800℃下灼烧2h。
SN/T3012-2011 4.7五氧化二钮（TaOs）：光谱纯，在800℃下灼烧2h。
4.8P-10混合气：含体积分数为90%的氩气和体积分数为10%的甲烷气。
5仪器和设备
5.1波长色散X射线荧光光谱仪：符合GB/T16597规定。
5.2铂-金埚（95%Pt+5%Au）：容积大于30mL 5.3铂-金模具（95%Pt+5%Au）：要求底部平整光滑。
5.4熔融炉：可控温并能加热至1300℃C，可为马弗炉、高频电炉或者燃气炉。
5.5高温炉：可控温并能加热至C，可为马弗炉高频电炉或者然气炉。
6试料
按照GB/T4414进行取制样，试样粒度应小于71μm，并在（105士5）℃干燥2h后置于干燥器中 贮存。
7测定步骤 7.1测定次数 对试料（6）至少进行两次分析。
7.2试样熔片制备 7.2.1称量 称取0.5000g±0.0002试（6）0.5000g0002g五氧化二钮（4.7）和8.0000g±0.0002g 混合熔剂（4.1）于铂-金锅（5.中混合均年 在熔样前应彻底清洗铂-金里球 7.2.2熔融 在装有试料的铂-金埚中加入0.5mL澳化锂溶液（4.3）和1mL硝酸锂溶液（4.5），置于电热板 上，烘干，再转移至700°℃的高温炉（5.5）中，预氧化5min，取出，后转移至1200°C的熔融炉（5.4）中熔 融，熔融过程中，不时旋转或摇动铂金地埚，使粘附在铂-金地埚壁上的小熔珠和样品进人熔体中。
5min后样品完全熔解且熔体均匀，将熔融物倒人已预热3min以上的铂-金模具（5.3）中，冷却，成型。
成型的试料片与模具自动脱模。
成型的试料片应是均匀的玻璃体，表面平整光滑，无不熔物，也不应有 结晶及气泡，否则应重新制备。
注1：熔融过程可采用手动或者自动熔融炉进行。
注2：如铂-金地蜗内底面平整光滑，也可在铂-金埚内直接冷却成型。
7.3校准曲线的绘制 7.3.1校准样片的制备 选择光谱纯三氧化钨（4.6）按表1配制校准试样，按7.2.2步骤制备成校准样片。
SN/T3012-2011
表1校准试样配制 称样量/g三氧化钨含量/% 样片编号三氧化钨
五氧化二钮混合熔剂 00.58.50 20.1250.58.37525 30.250.58.2550 40.3750.58.12575 50.50.58100
注：校准曲线工作范围可以根据实际样品浓度配置。
7.3.2测量条件 推荐的分析线和测量条件见表2。
表2元素测量条件 分析线晶体20/（°)准直器/（°）探测器电压/kV电流/mA测量时间/s WLa LiF20043.0030.15闪烁计数器605020 Ta La LiF20044.3990.15闪烁计数器605020
7.3.3校准方程 仪器稳定后，参照测量条件（7.3.2）测量校准样片（7.3.1）中WLa线和TaLa线的X射线荧光强 度，按式（1）进行回归校正，求出工作曲线常数a和b。
Cw=alw/IT+b 式中： Cw三氧化钨含量，质量分数（%）； Iw WLa线的X射线荧光强度； Ira TaLa线的X射线荧光强度； a,b工作曲线常数。
7.4样品测量 参照测量条件（7.3.2）测量试样熔片（7.2）中WLa线和TaLa线的X射线荧光强度。
对于含钮或可能含钮的样品，需校正试样中钮对测定的干扰。
校正方法为：于铂-金地埚内称取 0.5000g士0.0002g试料（6）、8.5000g±0.0005g混合溶剂（4.1），按7.2.2步骤制备成不含钮内标
光强度中予以扣除。
8结果计算
根据测出的试样熔片和钮干扰校正熔片中各元素的X射线荧光强度，按式（2）计算出三氧化钨的 含量。
SN/T3012-2011
Cw=alw/（ITa-ITa.o）+b 式中： Cw三氧化钨含量，质量分数（%）； Iw WLa线的X射线荧光强度； ITa试样熔片中TaLa线的X射线荧光强度； ITa.o钮干扰校正熔片中TaLa线的X射线荧光强度（对不含钽的试样，IT.值为零）； a,b-工作曲线常数。
计算结果保留到小数点后两位数字。
9精密度
本部分的精密度数据在2010年由8个实验室对5个水平的钨矿试样，进行协同试验，每个实验室 对每个水平的样品独立测定3次，试验数据按GB/T6379.2进行统计，方法的重复性和再现性见表3。
表3精密度单位：%（质量分数） 组分含量范围重复性限r再现性限R WO17.78~70.32r=0.2023+0.0004m R=0.1313m0.29 试料中WO的质量分数（%）。
在重复性条件下，获得的两次独立测试结果的差值的绝对值不大于重复极限r，出现大于重复性限 r的概率不大于5%。
书号：-22915 SN/T3012-2011定价：14.00元...
