ICS31.200 L56 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of level converter 2018-03-15发布 2018-08-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T35006-2018 目 次 前言 Ⅲ 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 1 4总则 2 4.1测试环境要求 2 4.2测试注意事项 5功能测试 2 5.1目的 2 5.2测试原理图 5.3测试程序 .3 5.4测试条件 .3 6静态参数测试 3 6.1输入钳位电压(Vk) .3 6.2输入高电平电压(Vm) 4 6.3输入低电平电压(V)5 6.4输出高电平电压(Vom) 6.5输出低电平电压(Vo) 6.6输入高电平电流(1m) 5 6.7输入低电平电流(Iu) 5 6.8输出高电平电流(Io)5 6.9输出低电平电流(Io) 6 6.10输出高阻态时高电平电流(Ioz) .7 6.11输出高阻态时低电平电流(Ioz) 8 6.12静态电流(Icco) 9 6.13电流偏移量（△Icca) .9 6.14输出对地短路电流(Ios) 10 6.15输出对电源短路电流(IosH) .11 6.16 开启电阻(RoN) 6.17通道间开启偏移电阻（△RoN) .13 7动态参数测试 14 7.1电源电流(Icc) 14 7.2最高工作频率(fMAx) 14 7.3最低工作频率(fMiN) 15 7.4输入电容(C1)和输出电容(Co) 16 7.5输出由低电平到高电平传输延迟时间(t)16 7.6输出由高电平到低电平传输延迟时间(PH) 17 I GB/T35006-2018 7.7输出由高阻态到高电平传输延迟时间(tPzH) ..18 7.8输出由高阻态到低电平传输延迟时间(tz) .18 7.9输出由高电平到高阻态传输延迟时间(tHz) 19 7.10输出由低电平到高阻态传输延迟时间(tz) 20 7.11输出由低电平到高电平转换时间(tTH) 21 7.12输出由高电平到低电平转换时间(tTHL) 22 7.13眼图高度(e) 23 7.14 眼图宽度(ew)24 7.15确定性抖动(D) 25 7.16 随机抖动(R ) 25 7.17总抖动(J) 26 ...
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