ICS31.200 CCS L55 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T43040-2023 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 Semiconductor integrated circuits-Test method of AC/DC converters 2023-09-07发布 2024-04-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T43040-2023 目 次 前言 Ⅲ 1范围 1 2规范性引用文件 3术语和定义 1 4一般测试要求 3 4.1测试环境要求 3 4.2测试注意事项 3 4.3测试仪器和设备 5测试条件和测试程序 5.1输入电压范围(VNR) 4 5.2输人频率范围(fr) 5 5.3空负载输入电流(I IN_NULI.) 6 5.4满负载输入电流(I风Fuu) 7 5.5关断态输入电流(INsp)7 5.6输出电压精度(a) .8 5.7输出电压温度系数(ac)9 5.8输出纹波电压(V.RIPPLE)11 5.9电压调整率(Sv) 12 5.10电流调整率(S1) 13 5.11交叉调整率(Sc) 14 5.12输出电压调整范围(VoR_TRM) 15 5.13 效率(7) 17 5.14 漏电流(I CASE) 18 5.15输入浪涌电流(I INRUSH) 19 5.16输出限制电流(I oPRO)20 5.17启动输出过冲电压(Vo) 21 5.18负载变化瞬态过冲电压(Vo) 22 5.19负载变化瞬态响应时间(tRo) 23 5.20 隔离阻抗(Rso) 25 5.21开关频率(fc) 26 5.22启动延迟时间(tTR) 27 5.23输出保持时间(t) 5.24使能开启电压(Vo) 29 I GB/T43040-2023 5.25使能关断电压(Voe) 30 5.26使能输入电流(IEN) 31 5.27使能延迟时间(tEn) 32 5.28抗电强度(Sn)34 ...
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