ICS 33. 050. 01 CCS M40 YD 中华人民共和国通信行业技术标准 YD/T****.1-20** 粒子辐射对电信系统及设备的影响 第1部分：总则 Effect of particle radiation on telemunication system and equipment Part 1: Overview （ITU-TK.124 2022，Overview ofparticle radiation effects on telemunication systems，NEQ) 标准信息服务平台 （报批稿 XXXX-XX-XX发布 XXXX-XX-XX实施 中华人民共和国工业和信息化部发布
YD/T****-20** 目次 前 1范围 2规范性引用文件. 3术语、定义和缩略语， 3.1术语和定义. 3.2缩略语... 4粒子辐射引起软错误的机制 4.1引起软错误的粒子辐射. 4.2地理条件和太阳活动对软错误率的影响.
4.3建筑和安装条件对通信设备软错误发生的影响 4.4软错误类型... 5通信设备软错误的影响及抑制方法， 5.1通信设备软错误的增加率. 5.2软错误对电信系统运行的影响及缓解措施 5.3通信设备软错误的缓解措施， 6软错误修正的必要性.. 7研发阶段的软错误抑制措施. 行业标准信息服务平台
YD/T****--20** 前言 本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起 草.
本文件参考ITU-TK.124（2022）《粒子辐射对通信系统的影响综述》起草，一致性程度为非等效.
除编辑性修改外，与K.124主要技术差异为： 结合中国的具体情况和限值，提供了增强预防粒子辐射对电信设备影响的能力设计和测试指南，推 算了世界主要城市的中子通量与北京的中子通量之比.
本文件由中国通信标准化协会提出并归口.
本文件起草单位中国电信集团有限公司、中国信息通信研究院、中兴通讯股份有限公司、重庆信 息通信研究院、华为技术有限公司、中讯邮电咨询设计院有限公司、新华三技术有限公司、上海诺基亚 贝尔股份有限公司.
本文件主要起草人王华刚、周锚、罗森文、李国庆、石莹、张兴海、牛年增、郝振平、张昆、谈 儒猛、刘殿铭.
行业标准信息服务平台 II
YD/T****-20** 引言 《粒子辐射对电信系统及设备的影响》分为如下部分： 一《粒子辐射对电信系统及设备的影响第1部分：总则》 一《粒子辐射对电信系统及设备的影响第2部分：电信设备的中子辐照试验方法》 一一《粒子辐射对电信系统及设备的影响第3部分：基于粒子辐射测试的缓解措施的评估方法》 一《粒子辐射对电信系统及设备的影响第4部分：受粒子辐射影响的电信系统的可靠性要求》 本部分是《粒子辐射对电信系统及设备的影响》的第1部分.
本部分主要技术内容包括：粒子辐射 引起软错误的机制，通信设备软错误的影响及抑制方法，软错误修正的必要性，研发阶段的软错误抑制 措施.
行业标准信息服务平台 IⅢ
YD/T****--20** 粒子辐射对电信系统及设备的影响第1部分：总则 1范围 本文件提供了粒子辐射对电信系统及设备的影响以及减轻软错误影响的通用指南和方法.
本文件适用于电信中心和数据机房内的电信设备，包括安装在电信中心的核心网设备和接入网设备.
2规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款.
其中，注日期的引用文件， 仅该日期对应的版本适用于本文件：不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本 文件.
ITU-T K.130 电信设备中子辐照试验方法（Neutron irradiation test methods for telemunication cquipment) ITU-T K.131 应用软误差测量的电信系统设计方法（Designmethodologies for (smsesu ouo os Sudde suss uogeounuoooo ITU-T K.138 基于粒子辐射试验的缓解措施质量估计方法和应用准则（Quality estimation methods and application guidelines for mitigation measures based on particle radiation tests) ITU-T K.139 受粒子辐射影响的电信系统的可靠性要求（Reliabilityrequirements for telemunication systems affected by particle radiation) ITU-T K.Sup11 现场可编程门阵列的软错误测量RemendationITU-TK.131 Supplement 11 (2018) Soft error measures of field programmable gate 3术语、定义和缩略语 3.1术语和定义 下列定义适用于本文件： 3. 1. 1 中子辐照试验neutronirradiationtest 通过使用由紧凑型加速器驱动的中子源发出的中子辐射来评估软错误质量的一种方法.
3.1.2 软错误softerror 设备上数据中的一个或多个比特位的值被翻转的现象.
软错误不构成对实际半导体器件的损坏.
3.1.3 软错误率soft errorrate 单位时间内软错误发生次数.
3.1.4 故障率failurein time（FIT) 表示在10亿（10）小时运行中可预期的故障数的单位.
3.2缩略语 以下缩略语适用于本文件：
