T/BEA 40002-2025 测控保通道测试设备测试方法.pdf

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中国团体标准

测控保通道测试设备测试方法

TestMethodsforTelemetryandRemoteControl ChannelAssuranceEquipment

北京电子仪器行业协会发布

T/BEA400022025.

前言

本标准由北京东方计量测试研究所提出.

本标准由北京电子仪器行业协会归口.

本标准主要起草单位:北京东方计量测试研究所.

本标准参与起草单位:北京信息科技大学、北京理工大学

本标准主要起草人:李田甜、于伟华、郭会平、徐圣法、贾冬宇、李爽玉、李千惠、傅雄军、孙厚军、邓长江.

测控保通道测试设备测试方法

1范围

本规范规定了测控保通道测试设备的性能指标、测试条件、测试项目、测试方法、测试结果的处理.

本规范适用于新研制(新购置)、使用中、修理后的测控保通道测试设备的测试.

2规范性引用文件

本规范引用了下列文件.

凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范:凡是不注日期的引用文件其最新版本适用于本规范.

DTU_100042 CORTEXCRT使用说明书STI_100013 CORTEX CRT 通信协议

3术语定义

3.1保通道测试设备

保通道测试设备集成了上变频、下变频及中频基带功能,实现射频/中频信号的相互转换,完成遥测、遥控信号调制解调等功能.

3.2标准USB模式

“统一载波”的特点,在同一个S波段载波上使用多种频率的副载波进行不同信号的调角,以实现多 标准USB模式是一种测控通信体制,相对于不同功能采取不同载波的方式,LSB体制所体现的是路信号的频分复用传输.

3.3非相干扩频模式

非相干扩频体制是一种测控通信体制,该体制下的信息数据时钟与伪随机码时钟异步,通过增加伪随机码可以实现抗干扰、码分多址等优点.

4符号和缩略语

USB-UnifiedSBand,统一S波段测控体制 PCM-Pulse Code Modulation,脉冲编码调制PSK - Phase-shift Keying, 相移键控BPSK-Binary Phase Shift Keying,二进制相移键控 PM -Phase Modulation,相位调制CDMA -Code Division Multiple Access,码分多址

5系统架构

保通道测试设备集成了上变频、下变频及中频基带功能,实现射频/中频信号转换,标准USB体制模式、非相干扩频体制模式等多种体制下,遥测、遥控信号调制解调等功能.每台设备根据设备硬件 配备的不同具备不同的工作模式.包含三个模块,上变频模块、下变频模块、基带模块,并可根据需求扩展模块数量.具备RJ45网口,可实现远控软件的远程控制.

图1设备原理框图

6功能要求

置,完成测控基带信号的上、下行信号编码、调制和发射,已经接收、解调和解码. 测控保通道设备主要完成测试过程中的S波段射频上、下行信号通道的频率变换、通道增益的设

7技术指标

7.1上变频模块

a) 输入信号标称频率:70MHz:b) 输入信号带宽:20z:c) (P 频率设置步进:1kHz: 输出信号频率:S频段:e) 1dB压缩点输出功率:≥0dBm:f) g) 增益控制范围:30dB: 输出功率平坦度:<1dB/20MHz;h) 增益步进:1dB: 7.2下变频模块 a) 输入信号频率:S频段:b) c) 频率设置步进:1kHz: 输入信号带宽:20MHz:(P 输出标称频率:70MHz:e) f) 频率设置步进:1kHz: 1dB压缩点输出功率:≥0dBm:g) 输出功率平坦度:≤1dB/20MHz:h) i) 增益步进:1dB. 增益控制范围:60dB: 7.3基带标准USB模式 a) 信号体制:PCM-PSK-PM:b) 中频频率:70MHz;c) d) 中频输出功率:-30~0dBm 码型:NRZ-L/S:e) 遥测格式:帧长128~1024字节:f) 遥控码速率:100bps~8kbps: 遥测码速率:1024bps~64kbps:h) g) 遥测副载波频率:8kHz~100kHz; T/BEA400022025. i) 载波多普勒频偏:0~±500kHz: 遥控副载波频率:8kHz~100kHz;k) j) 载波多普勒变化率:0~±32kHz/s:1) 捕获灵敏度:优于-80dBm:n) Eb/NO较理论值恶化≤2.5dB. 7.4基带非相干扩频模式 b) a) 中频频率:70MHz; 信号体制:PCM-CDMA-BPSK;c) 中频输出功率:-30~0dBm:(P e) 码型:NRZ-L 遥测格式:帧长4~1024字节:f) 遥测码速率:32bps~64kbps;g) i) 遥控码速率:8bps~8kbps: 载波多普勒频偏:0~±500kHz:j) 载波多普勒变化率:0~±32kHz/s;k) 1) 捕获灵敏度:优于-80dBm: 载波抑制:≥30dB:m) Eb/NO 较理论值恶化≤2.5dB. 8测试项目 8. 1 性能测试项目 表1 性能测试项目及相应条件与制约 性能测试项目 测试条件与制约上变频模块 输出频率范围:S频段:输出频率步进:IkHz:带宽(输入信号):20MHz:带内平坦度:≤1dB/20MHz: 增益控制范围:30dB:增益步进:1dB:1dB压缩点输出功率:≥ldBm.下变频模块 接收频率范围:S频段:接收频率步进:IkHz: 增益控制范围:60dB:增益步进:1dB:带宽(输入信号):20MHz:带内平坦度:≤ldB/20MHz:IdB压缩点输出功率:≥ldBm.基带模块 中频输出频率:70MHz,精度±0.1MHz. 中频输出功率:-30~0dBm,精度±3dBm,可调:标准USB模式 载波多普勒频偏:0~±500kHz:捕获灵敏度:优于-80dBm: 载波多普勒变化率:0-±32kHz/s:Eb/N0较理论值恶化≤2.5dB.非相干扩频模式 载波多普勒频偏:0~±500kHz:捕获灵敏度:优于-80dBm: 载波多普勒变化率:0-±32kHz/s:载波抑制:≥30dB:Eb/N0较理论值恶化≤2.5dB. 8. 2 功能测试项目 表2 功能测试项目及相应名称 功能测试项目 测试项目名称

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