中华人民共和国国家标准
GB/T 5597-1999
Testmethodforplexpermittivityofsoliddielectricmaterialsatmicrowavefrequencies
国家质量技术监督局发布
旱
本标准是对GB/T5597-1985《固体电介质微波复介电常数的测试方法》的修订.
本标准对原标准GB/T5597-1985做了如下修订：
信号源由扫频信号源改为额综信号源，使测试系统大为简化：由于改窄带反射速调管扫频工作点，1献"绝对值求和改为方和根的误差综合，因面测试误差大幅下降，△/e由原来的1.5%降至1.0%， 指示器用4tan6 由原来15%tan81.0×10降至3%tan83.0×10；并将tan6 的测试范围下限由2×10改为1×10
本标准自实施之日起同时代替GB/T5597一1985.本标准的附录A、附录B、附录C都是提示的附录. 本标准由中华人民共和国电子工业部提出.本标准由电子工业部标准化研究所归口.本标准起草单位：中国电子技术标准化研究所、电子科技大学.本标准主要起草人：张其础、王玉功、李晓英.
中华人民共和国国家标准
固体电介质微波复介电常数的 测试方法
GB/T 5597-1999
代替GB/T5597-1985
Test method for plex permittivity of soliddielectric materials at microwave frequencies
1范围
本标准规定了均匀的、各向同性的固体电介质材料微波复介电常数的测试方法.
本标准适用于频率范围为2GHz~18GHz内复介电常数的测定.推荐测试频率为9.5GHz，其测定范围；相对介电常数实部为2~20，介质电损耗角正切tan8.为1×10~5×10-.
2定义
复数介电常数为：
式中：c复数相对介电常数：
-真空介电常数，其值为8.854×10"F/m.
本标准所述及的复数介电常数实际上均指相对介电常数，并以相对介电常数的实部e和介电损耗角正切tan6，=e/e表征之.
3测试原理
（a）所示.当此测试腔中放人厚度为d的盘状试样后，如图1（b）所示，将发生两方面的变化：（1）由于介 在一确定频率下面柱型TE模式高品质因数测试腔的谐振长度为，固有品质因数为Q，如图1质试样的介电常数c大于1，因此填充有试样介质的那段波导的相位常数将增大，在原频率上产生谐振的腔体长度将缩短为4：（2）由于介质试样将引入附加的介质损耗，导致测试腔的固有品质因数下降为Qn.
图1
推算出介质材料的介电常数e及介质电损耗角正切tan& 根据测试腔在放人介质试样前后，其谐振长度变化量S（S一L一L.）和品质因数的改变量，可以分别
