中华人民共和国国家标准
GB/T 11682-2008代替 GB/T11682-1989
低本底α和/或β测量仪
Low background alpha and/or beta measuring instruments
中国国家标准化管理委员会 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
前言
本标准与GB/T11682-1989相比作了如下修改： 本标准代替GB/T11682-1989低本底a测量仪》.标准名称修改为（低本底a和/或β测量仪》；一增加了测量低本底β的内容；一“规范性引用文件”中增加了引用的标准；一增加.与β的相互干扰指标，即串道比指标： “术语和定义”中增加了”串道比”的内容：增加了仪器电磁兼容的要求和试验方法：一增加了对仅器软件的通用要求：剩除了“表1仪器分级”中本底稳定性的技术指标：本标准的附录A为规范性附录. 副除了“表2改变影响量的项目和要求”中变化限值和本底计数率的技术要求.本标准由中国核工业集团公司提出.本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会（SAC/TC30）归口.本标准起草单位：中核（北京）核仪器厂.本标准主要起草人：杨彬华、文建生、吴炳麟. 本标准所代替标准的历次版本发布情况为：GB/T 11682-1989.
低本底α和/或β测量仪
1范围
本标准规定了低本底a和/或β测量仪的技术要求、试验方法和检验规则.
本标准适用于测量弱a、3放射性活度或表面发射率的仪器也适用于多用途仪器中的测量瑕或β放射性的部分.
本标准不适用于测量α或B能谱类型的仪器.
2规范性引用文件
的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然面，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款.凡是注日期的引用文件，其随后是否可使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准.
GB/T4078放射性测量用样品托盘、瓶子和试管的尺寸GB/T8993-1998核仪器环境条件与试验方法 GB/T10257-2001核仪器和核辐射探测器质量检验规则GB/T17799.1一1999电磁兼容通用标准居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验GB/T19661.1一2005核仪器及系统安全要求第1部分：通用要求GB/T19661.2核仪器及系统安全要求第2部分：放射性防护要求
3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准.
3. 1本底background
非起因于待测物理量的信号.
3.2仪器本底instrumental background仪器在正常工作条件下，样品盘中无放射源时，仅器的指示值.
空白样品blank sample由无外加放射性但与样品相同的物质，按正常程序制作的待测平面样品.
3. 4空白样品本底hackgroundof blank sample仪器在正常工作条件下，测量空白样品的指示值.
3.5
本底计数background count
在没有被测样品存在的条件下，测量装置的固有计数.这些计数来自宇宙射线、周围环境中的放射性物质和探测器本身的放射性污染等.
9°
本底计数率background count rate
单位时间内的本底计数.
GB/T 11682-2008
3.7
在给定时刻，处于特定能态的一定量的某种放射性核素的活度A是dN除以dr面得的商：
式中：dN-一在该时间间隔d内，该核素从该能态发生自发核跃迁数的期望值.
3.8表面发射率surface emission rate
对于一个给定的放射源，在单位时间内由该表面发射出给定类型的粒子数.
3.9低本底α和/或β测量仪lowbackground alpha and/or beta measuring instruments测量弱α、β放射性活度或表面发射率的仪器.
3. 10
在一定的探测条件下，探测器测得的粒子数与在同一时间间隔内辐射源发射的该种粒子数的比值.
几何因子geomerty factor
探测效率在一定几何条件下的极限值，它可由探测器灵敏面与放射源之间的几何关系计算出来.
3. 13 串道比interfere ratio仪器测量单一a或β参考源时，在B道或道的计数与.道和β道总计数的之比.
3.14干扰辐射interferenceradiation
仪器预定测量辐射以外的其他辐射.
3. 15探测器窗window of a detector探测器中使待测辐射易于穿透的部位.
3. 16 探测器灵敏面积sensitive surface of a detector探测器中对辐射灵敏并用于探测的那部分面积.
4技术要求
4.1一般要求
低本底a和/或B测量仪的基本组成包括探测部件和屏蔽体、测量和数据处理单元、电源等部件，这些部件可组装成一个整体，也可分成几个部分用电缆连接.
4.1.1探测部件和屏蔽体
探测部件由一个或多个探测器以及有关电路组成，其设计应满足如下要求： 探测器在工作时，探测器窗与待测样品表面之间的距离一般应小于10mm；设计探测器时，应考虑尽量不受其他电离辐射的影响：一探测器所用的屏蔽体应注意材料的选用，其结构应易于拆装、搬运.
制造厂应说明探测器的类型和灵敏面积的尺寸.如果使用反符合探测器，还应给出反符合探测器的类型、尺寸等.
探测器工作时如需要供给工作气体时，制造厂应说明所用的气体成分、纯度和供气流量值等.
探测部件的结构应易于去污.
样品盘应符合GB/T4078的有关规定.
4.1.2测量和数据处理单元
应不小于24h，并可分成若干档.定数装置的最大预定计数容量应不小于1000，也可分为若干档.时 仪器的指示值可用预定时间的计数表示，也可用预定计数的时间表示.定时装置的最长预定时间间的准确度应达到0.1%.
仪器应有自检、数据储存、历史数据查询、报表打印、数据传输等功能.
仪器应尽可能降低外界干扰的影响.
4.1.3电源
仪器可用交流或直流供电.
交流供电：电源应为220V，50Hz，并应设有停电指示，也可附加防止数据丢失的措施.
直流供电：由一次电池或二次电池供电，其有效使用期应不小于250h，具体时间由制造厂给出.仪器上应清楚地标出电池安装的正、负极性. 在电池有效使用期间，仪器性能应满足本标准规定的技术要求.仪器应具有更换电池的明显警戒标记.
4.2放射源
4.2.1参考源
参考源应经国家计量部门认可的校准装置进行测量，其不确定度应不大于5%.
对于a测量，推荐使用Am、Pu等作为参考源.
对于β测量，推荐使用Sr/Y、T1、C等作为参考源
当仪器用于测量最大能量小于250keV的β粒子时，应选用"C作为参考源（使用流气式正比计数管的仪器对C的β效率应不小于40%）.
4.2.2检查源
检查源仅用于检查仪器是否正常工作和稳定性，可选用长寿命的a或β放射源.为了使测量准确，制造厂应给出仪器在测量时的几何参数，特别是所用参考源或检查源的尺寸.
4.3仪器分级
这四项指标将仪器分为I、Ⅱ、Ⅲ级，见表1.仪器应同时满足表中所列的各级四项指标的规定，如果仪 低本底.和/或B测量仪的本底计数率、效率比、效率稳定性和串道比是仪器的四个主要指标，根据器的某项指标不满足某一分级中的要求，则应认为归属下一级.
表1仪器分级
技术指标 I级 Ⅱ级 缓单位面积的平均本底计数率/ （计数▪cm²h²） ≤0.1 ≤3.0 ≤0 3 ≤9 0 ≤ 30 0 ≤1.090% ≥80%效率比 09 %效率稳定性 ≤3% 5X ≤10%≤5 ≤1% ≤10% ≤3% ≤15% ≤5%串道比 a射线对β道 B射线对.道 0% ≤0.5% ≤1 0%注：分级测量a参考源用Am或Pu，参考活性区为25mm，表面粒子发射率为（10²~10²1粒子数/（min2）；β参考源用Sr/Y，参考源活性区为20mm表面粒子发射率为（10²~10）粒子数/（min2n）
